发明名称 TEMPERATURE CONTROL SYSTEM OF DRY INTERFACE THERMAL CHUCK FOR SEMICONDUCTOR WAFER TEST
摘要
申请公布号 JPH0653298(A) 申请公布日期 1994.02.25
申请号 JP19900405226 申请日期 1990.12.21
申请人 INTERNATL BUSINESS MACH CORP <IBM> 发明人 ANSONII JIYON ABURAMI;SUCHIYUAATO HAWAADO BARAADO;SANTEIAGO ERUNESUTO DERU PUERUTO;POORU MACHIYUU GASHIYUKU;MAAKU REIMONDO RAFUOOSU;POORU JIYOSEFU ROGUMAN;KOOTO FUOSUTAA RONGENBATSUKU
分类号 G01R31/28;G05D23/19;G05D23/20;G05D23/24;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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