| 摘要 |
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung (100) zur Identifizierung von fehlerhaften Leitern (18) in einer Leiteranordnung (10) mit mindestens zwei parallelgeschalteten Leitern (11) durch Anlegen einer Spannung UAC an die Leiteranordnung (10), um ein magnetisches Feld (15, 17) zu erzeugen, Messen einer Feldstärke H des magnetischen Felds (15, 17) entlang einer Querrichtung x der Leiteranordnung (10) und Auswerten einer Amplitude der gemessenen Feldstärke. Das Verfahren kann beispielsweise zur Identifikation von defekten Leiteranordnungen (10) für elektrisch beheizbare Scheiben (50) genutzt werden. |
