主权项 |
1.一种具有等向步阶的半导体基板,系在表面依序形成具有由InGaA1P系材料所构成的活性层的双异质构造体及第1电极,且在背面形成第2电极,而用以构成半导体发光元件的半导体基板,其特征系:在前述形成双异质构造体的面10a具有由(n11)面所构成的原子阶。2.如申请专利范围第1项之具有等向步阶的半导体基板,其中前述的(n11)面系为(311)面或(511)面。3.如申请专利范围第1项之具有等向步阶的半导体基板,其中前述的形成了双异质构造体的面的面方位系(100)面。4.如申请专利范围第2项之具有等向步阶的半导体基板,其中前述的形成了双异质构造体的面的面方位系(100)面。5.如申请专利范围第3项之具有等向步阶的半导体基板,其中前述的(n11)面系从形成前述双异质构造体面的面方位(100)以51.0度以内的角度而倾斜。6.如申请专利范围第4项之具有等向步阶的半导体基板,其中前述(n11)面系从形成前述双异质构造体的面的面方位(100)以51.0度以内的角度而倾斜。7.如申请专利范围第1-6项中的任一项之具有等向步阶的半导体基板,其系由GaAs所形成。图示简单说明:第1图系概略的显示本发明的一实施例的具有等向步阶的半导体基板的构成的断面图,(a)为全体断面图,(b)-(d)为部份扩大图。第2图系概略的显示以往的半导体基板的构成,(a)为全体断面图,(b)-(d)为部份扩大图。第3图系概略的显示使用本发明的具有等向步阶的半导体基板的发光二极体的构成例的断面图。第4图系比较使用本发明的具有等向步阶的半导体基板的发光二极体及使用以往的半导体基板的发光二极体的初期发光效率的图。第5图系比较使用本发明的具有等向步阶的半导体基板的发光二极体及使用以往的半导体基皮的发光二极体的残存率的图。 |