发明名称 X-RAY EXAMINATION APPARATUS WITH A HIGH-RESOLUTION IMAGE SENSOR
摘要 <p>L'invention concerne un appareil d'examen aux rayons X comprenant un détecteur (1) de rayons X destiné à dériver une image optique d'une image radiologique. Un dispositif (2) de capture d'images dérive un signal d'image de l'image optique. Le dispositif (2) de capture d'images comprend un capteur (3, 4) d'images comportant plusieurs éléments de capteur. La zone de surface effective des éléments de capteur est différente pour des composants spectraux optiques différents de l'image optique. Le dispositif de capture d'images comprend un système (8) de réglage permettant de sélectionner un composant spectral optique. Le signal d'image dérive du composant spectral optique sélectionné.</p>
申请公布号 WO2000005876(A1) 申请公布日期 2000.02.03
申请号 EP1999004762 申请日期 1999.07.07
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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