发明名称 半导体器件及其形成方法
摘要 薄膜半导体器件,例如TFT及其制造方法。TFT形成在绝缘衬底上。在该衬底上先形成基本上为非晶半导体涂层。再在该涂层上形成对激光辐射透明的保护涂层。用激光辐射照射该叠层,以改善半导体涂层的结晶度。然后,除去保护涂层使半导体涂层的表面露出。形成栅绝缘膜的涂层,随后形成栅电极。还涉及在绝缘衬底上制造半导体器件,例如TFT。形成主要由氮化铝组成第1涂层后,再形成主要由氧化硅组成的第2涂层,其上可制作半导体器件。
申请公布号 CN1248038A 申请公布日期 2000.03.22
申请号 CN99117970.6 申请日期 1993.07.06
申请人 株式会社半导体能源研究所 发明人 山崎舜平;张宏勇;竹村保彦
分类号 G09F9/35;G02F1/13;H01L29/78;H01L27/00 主分类号 G09F9/35
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 张志醒
主权项 1.一种有源阵列显示器件,包括:半导体层,具有形成在一绝缘表面上的至少第一和第二掺杂区及沟道形成区;栅绝缘膜,靠近所述沟道形成区设置;栅电极,靠近所述栅绝缘膜设置;绝缘膜,包含形成在所述半导体层上的有机树脂、所述栅绝缘膜和所述栅电极;象素电极,形成在所述绝缘膜上,且与所述第一和第二掺杂区之一电连接;以及导电层,形成在所述绝缘膜上,且与所述第一和第二掺杂区中另一区电连接。
地址 日本神奈川县