发明名称 具有非所欲杂质截取器的离子植入器
摘要 一种离子植入器可防止非所欲杂质植入晶圆内,其包括一离子源供产生待植入晶圆之离子束,一前分析磁铁供防止离子束内非期望之离子通过,一加速器供加速离子束,一后分析磁铁供防止已加速离子束内之非所欲离子通过,及一杂质截取器安装于加速器与后分析磁铁间供截取于加速器产生的杂质以防杂质通过后分析磁铁。
申请公布号 TW391036 申请公布日期 2000.05.21
申请号 TW087114844 申请日期 1998.09.07
申请人 三星电子股份有限公司 发明人 卞铉玉;梁允模
分类号 H01L21/265 主分类号 H01L21/265
代理机构 代理人 恽轶群 台北巿南京东路三段二四八号七楼;陈文郎 台北巿南京东路三段二四八号七楼
主权项 1.一种离子植入器,其包含:一离子源供产生待植入晶圆之离子束;一前分析磁铁供防止离子束之非所欲离子通过;一加速器供加速离子束;一后分析磁铁供防止被加速离子束内之非所欲离子通过;及一杂质截取器架设于加速器与后分析磁铁间,供截取于加速器产生的杂质以防杂质通过后分析磁铁。2.如申请专利范围第1项之离子植入器,其中该加速器为衔接式加速器。3.如申请专利范围第1项之离子植入器,其中该杂质截取器包括一高压电源,及一截取板其电连接至高压电源之输出埠且安装于离子路径。4.如申请专利范围第3项之离子植入器,其中来自高压电源之高电压输出以浮动电压形式施加至截取板。5.如申请专利范围第3项之离子植入器,其中该截取板有一孔成形于其中央供允许离子束通过。6.一种离子植入器,其包含:一离子源供产生待植入晶圆之离子束;一前分析磁铁供防止离子束之非所欲离子通过;一加速器供加速离子束;一后分析磁铁供防止被加速离子束内之非所欲离子通过;及一杂质截取器架设于后分析磁铁间输出后方,供截取于加速器产生的杂质以防杂质通过后分析磁铁。7.如申请专利范围第6项之离子植入器,其中该加速器为衔接式加速器。8.如申请专利范围第6项之离子植入器,其中该杂质截取器包括一高压电源,及一截取板其电连接至高压电源之输出埠且安装于离子路径。9.如申请专利范围第8项之离子植入器,其中来自高压电源之高电压输出以浮动电压形式施加至截取板。10.如申请专利范围第8项之离子植入器,其中该截取板有一孔成形于其中央供允许离子束通过。11.一种离子植入器,其包含:一离子源供产生待植入晶圆之离子束;一前分析磁铁供防止离子束之非所欲离子通过;一加速器供加速离子束;一后分析磁铁供防止被加速离子束内之非所欲离子通过;及一杂质截取器架设于加速器出口部份,供截取于加速器产生的杂质以防杂质通过后分析磁铁。12.如申请专利范围第11项之离子植入器,其中该加速器为衔接式加速器。13.如申请专利范围第11项之离子植入器,其中该杂质截取器包括一高压电源,及一截取板其电连接至高压电源之输出埠且安装于离子路径。14.如申请专利范围第13项之离子植入器,其中来自高压电源之高电压输出以浮动电压形式施加至截取板。15.如申请专利范围第13项之离子植入器,其中该截取板有一孔成形于其中央供允许离子束通过。图式简单说明:第一图为习知离子植入器之方块图;第二图为根据本发明之第一具体例之离子植入器之方块图;第三图为根据本发明之杂质截取器之剖面图;第四图为根据本发明之杂质截取器之细节图;第五图为根据本发明之第二具体例之离子植入器之方块图;第六图为根据本发明之第三具体例之离子植入器之方块图;及第七图为第六图之杂质截取器之剖面图。
地址 韩国