发明名称 TEST CIRCUIT FOR REGISTER
摘要
申请公布号 KR200194919(Y1) 申请公布日期 2000.10.02
申请号 KR19980000394U 申请日期 1998.01.15
申请人 LG ELECTRONICS INC. 发明人 BAE, YUN SEOB
分类号 G11C19/00;(IPC1-7):G11C19/00 主分类号 G11C19/00
代理机构 代理人
主权项
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