| 摘要 |
본 발명은 전체 이온 개수를 측정하여 일정한 온도에서 재현성 있는 생성된 이온들의 질량 스펙트럼을 구하는 방법 및 말디 질량분석법을 이용한 정량 분석을 위한 매트릭스의 용도에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 본 발명은 시료가 혼합된 시편에 에너지를 가하여 형성되는 이온들로부터 얻어지는 다수의 질량 스펙트럼들 중에서, 전체 이온 개수가 서로 동일한 질량 스펙트럼들만을 선별하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 일정한 온도에서 생성된 이온들의 질량 스펙트럼을 측정하는 방법에 대한 것이다. 또한, 본 발명은 일정한 온도에서 매트릭스와 시료 간의 양성자 교환 반응의 평형상수를 측정하는 방법, MALDI 정량분석용 검정선(calibration curve)을 구하는 방법, 및 MALDI 질량분석법을 이용한 시료의 정량 분석 방법, 그리고 말디 질량분석법을 이용한 정량 분석을 위한 매트릭스의 용도에 대한 것이다. |
