发明名称 检测装置
摘要 本创作为一种检测装置,主要包括一置料机构,一搬送机构及一量测机构,该置料机构之一侧可供承载待测物;该搬送机构可作两轴之平移动作,将待测物取放于量测机构之检测平台,并将经检测完成之已测物取放于置料机构之另一侧;该量测机构具有复数组之定位检测平台,及相配合之光学发射接受组,可对待测物作透射率、折射率等光学特性之检测;藉由各机构之相对连动,大幅缩短被测元件检测流程所花时间,尤其针对小型之光学元件,更可提供稳定精确之定位结果,再进行光学量测动作,缩短元件上平台量测之等待时间,使产能及量测品质皆能同时有所增进。
申请公布号 TW491354 申请公布日期 2002.06.11
申请号 TW090212497 申请日期 2001.07.19
申请人 技创科技股份有限公司 发明人 余惠民;陈杲卿;王连能
分类号 G01M11/00 主分类号 G01M11/00
代理机构 代理人
主权项 1.一种检测装置,主要包括一置料机构,一搬送机构及一量测机构:置料机构系设于机架平台上,于两侧设有可供承载工件之载板;搬送机构于置料机构两侧可作两轴之平移动作,其上设有固定座,可带动取料头取放载板之工件;量测机构系设于置料机构两侧载板间,具有复数组之检测平台,检测平台之一侧设有可平移之固定座,该固定座并装设有适当数量之检测头,检测头可移动至相关检测平台位置。2.如申请专利范围第1项所述之检测装置,其中置料机构两侧载板上设有适当数量之可装移载盘。3.如申请专利范围第1项所述之检测装置,其中搬送机构之取料头可以吸放或夹持方式进行工件之取放者。4.如申请专利范围第1项所述之检测装置,其中量测机构之检测平台,系设有相应之定位杆,该定位杆可对置放于检测平台之工件进行定位动作者。5.如申请专利范围第4项所述之检测装置,其中该定位杆系可以伸缩推移方式对工件进行定位者。图式简单说明:第一图本创作之上视示意图。第二图本创作之侧视示意图。第三图本创作之前视示意图。
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