发明名称 杂讯抑制装置
摘要 具备输入类似杂讯信号、输入信号光谱(spectral)、以及每个小频带之推测杂讯光谱,算出每个小频带之输入信号平均光谱,而以类似杂讯信号当基准,算出每个小频带之推测杂讯光谱和每个小频带之输入信号平均光谱之混合率,并算出以每个小频带之推测杂讯光谱、每个小频带之输入信号平均光谱、以及以混合率当基准之每个小频带的SN比之次频带(sub-band)SN比算出装置之杂讯抑制装置。
申请公布号 TW499673 申请公布日期 2002.08.21
申请号 TW090107647 申请日期 2001.03.30
申请人 三菱电机股份有限公司 发明人 古田训;高桥真哉
分类号 G10L21/00 主分类号 G10L21/00
代理机构 代理人 洪澄文 台北巿信义路四段二七九号三楼
主权项 1.一种杂讯抑制装置,包括:时间∕频率转换装置,在每个讯框上将输入信号作频率分析,而转换为输入信号光谱、和相位光谱;类似杂讯分析装置,算出输入信号之讯框为杂讯或声音之指标之类似杂讯信号;杂讯光谱推测装置,输入藉由上述时间∕频率转换装置而被转换之输入信号光谱,算出每个小频带之输入信号平均光谱,而以所算出之每个小频带之输入信号平均光谱、和由上述类似杂讯分析装置所算出之类似杂讯信号当基准,来更新从过去之讯框来推测之每个小频带之推测杂讯光谱;次频带SN比算出装置,输入了藉由上述类似杂讯分析装置所算出之类似杂讯信号、藉由上述时间∕频率转换装置所转换的输入信号光谱、藉由上述杂讯光谱推测装置所更新之每个小频带之推测杂讯光谱,来算出根据被输入之输入信号光谱之每个小频带之输入信号平均光谱,而以所输入之类似杂讯信号当基准,算出输入之每个小频带之推测杂讯光谱和算出之每个小频带之输入信号平均光谱之混合率,而以输入之每个小频带之推测杂讯光谱、算出之每个小频带之输入信号平均光谱、和算出之混合率为基准,算出每个小频带之SN比;光谱抑制量算出装置,使用藉由上述次频带SN比算出装置所算出之每个小频带之SN比,来算出对于根据上述杂讯光谱推测装置所更新的每个小频带之推测杂讯光谱之每个小频带之光谱抑制量;光谱抑制装置,使用藉由上述光谱抑制量算出装置所算出之每个小频带之光谱抑制量,来执行根据上述时间∕频率转换装置所转换之输入信号光谱之光谱振幅抑制,而输出杂讯去除光谱;以及频率∕时间转换装置,使用藉由上述时间∕频率转换装置所转换之相位光谱,将根据上述光谱抑制装置所输出之杂讯去除光谱,转换为时间领域之杂讯抑制信号。2.如申请专利范围第1项所述的杂讯抑制装置,其中根据次频带SN比算出装置所算出之混合率,系由和类似杂讯信号成比例之函数来决定。3.如申请专利范围第1项所述的杂讯抑制装置,其中根据次频带SN比算出装置所算出之混合率,随着每个小频带愈成为高频,而设定愈低之既定的临限値。4.如申请专利范围第3项所述的杂讯抑制装置,其中藉由次频带SN比算出装置所算出的每个小频带之混合率,随着频率变高而变大地,来加权。5.如申请专利范围第4项所述的杂讯抑制装置,其中藉由次频带SN比算出装置所算出的混合率,在类似杂音信号超过既定之临限値之时,被加权。6.如申请专利范围第1项所述的杂讯抑制装置,其中藉由次频带SN比算出装置所算出的算出混合率,根据对应至类似杂音信号之既定値,来被设定。7.如申请专利范围第6项所述的杂讯抑制装置,其中藉由次频带SN比算出装置所算出的混合率,根据每个小频带之既定位,来被设定。8.如申请专利范围第7项所述的杂讯抑制装置,其中藉由次频带SN比算出装置所算出的每个小频带之混合率,随着频率变高而变大地,来加权。9.如申请专利范围第8项所述的杂讯抑制装置,其中藉由次频带SN比算出装置所算出的混合率,在类似杂音信号超过既定之临限値之时,被加权。图式简单说明:第1图系表示习知之杂讯抑制装置之构成方块图。第2图系表示在习知之杂讯抑制装置之杂讯推测电路之构成方块图。第3图系表示根据本发明之实施例1之杂讯抑制装置之构成方块图。第4图系表示根据本发明之实施例1之杂讯抑制装置之次频带SN比算出装置之构成方块图。第5图系表示根据本发明之实施例1之杂讯抑制装置之类似杂讯分析装置之构成方块图。第6图系表示根据本发明之实施例1之杂讯抑制装置之杂讯光谱推测装置之构成方块图。第7图系表示根据本发明之实施例1之杂讯抑制装置之光谱抑制量算出装置之构成方块图。第8图系表示根据本发明之实施例1之杂讯抑制装置之光谱抑制装置之构成方块图。第9图系表示根据本发明之实施例1之杂讯抑制装置之频率频带分割表之图。第10图系表示根据本发明之实施例1之杂讯抑制装置之输入信号平均光谱、推测杂讯光谱、和次频带SN比之关系图。第11图系表示在根据本发明之实施例5之杂讯抑制装置上,执行在混合率之频率方向之加权之时,输入信号平均光谱、推测杂讯光谱、和次频带SN比之关系图。
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