发明名称 Verfahren zur Phasenkontrastmikroskopie sowie Phasenkontrastmikroskop
摘要 Ein Verfahren zur Phasenkontrastmikroskopie an einer Probe, welche in einem eine Objektflüssigkeit (6) aufweisenden Probenbehälter (5) angeordnet ist, bei dem ein von der Probe ungebeugter, als Direktstrahlung dienender Anteil eines Beleuchtungsbündels (3) auf ein Phasenverschiebungselement (12) gegeben wird, kennzeichnet sich dadurch, dass zur Kompensation einer aufgrund optischer Brechung an der Objektflüssigkeit (6) gegebenen Änderung der Hauptstrahlungsrichtung (28) des Beleuchtungsbündels (3) das Beleuchtungsbündel (3) vor Eintritt in die Objektflüssigkeit (6) mittels eines in Position und/oder Form veränderbaren optischen Ablenkungselements (8) abgelenkt wird. Eine Optikeinheit, umfassend ein optisches Ablenkungselement (8) mit einer Eintrittsfläche (29) und einer Austrittsfläche (23) und Mitteln zur steuerbaren Veränderung des Winkels zwischen Eintrittsfläche (29) und Austrittsfläche (23), wobei zwischen Eintrittsfläche (29) und Austrittsfläche (23) eine viskose Masse (9) angeordnet ist, kennzeichnet sich dadurch, dass die Eintrittsfläche (29) durch eine in einem Schwerefeld gebildete Oberfläche der viskosen Masse (9) vorgegeben ist. Schließlich wird ein Phasenkontrastmikroskop zur Anwendung des Verfahrens vorgestellt.
申请公布号 DE102015111426(B3) 申请公布日期 2016.10.20
申请号 DE201510111426 申请日期 2015.07.14
申请人 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. 发明人 Schenk, Friedrich;Diederich, Benedict
分类号 G02B21/14;G02B3/14;G02B5/06;G02B21/00;G02B26/08 主分类号 G02B21/14
代理机构 代理人
主权项
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