发明名称 原稿面之相对照度量测法
摘要 本发明系利用量测扫描器光源穿透过原稿后的光照度,以求得光源照射原稿面时的照度,可以避免量测反射光照度时所需对扫描器做的一些改变,以及这些改变对调整的光源可能造成的影响,并加快测量时的效率。
申请公布号 TW577224 申请公布日期 2004.02.21
申请号 TW091119333 申请日期 2002.08.27
申请人 力捷电脑股份有限公司 发明人 郭士文
分类号 H04N1/04 主分类号 H04N1/04
代理机构 代理人 陈达仁 台北市中山区南京东路二段一一一号八楼之三;谢德铭 台北市中山区南京东路二段一一一号八楼之三
主权项 1.一种相对照度之量测法,其方法包含:量测一光源透射过一原稿后之照度;以及以该透射之照度値除以一透射率或乘上该透射率的倒数,换算得知该光源照射至该原稿面之照度。2.如申请专利第1项之相对照度之量测法,更包含量测该原稿于透射角度为0到90度时的各角度之透射率。3.如申请专利第1项之相对照度之量测法,更包含量测该原稿于反射角度为0到90度时的各角度之反射率。4.如申请专利第1项之相对照度之量测法,其中上述之原稿为白色纸张。5.如申请专利第1项之相对照度之量测法,其中上述之原稿为非白色之物体。6.如申请专利第1项之相对照度之量测法,其中上述之光源为冷阴极灯管。7.如申请专利第1项之相对照度之量测法,其中上述之光源系选自于白光发光二极体、红光发光二极体、蓝光发光二极体、绿光发光二极体所组成之族群。8.如申请专利第1项之相对照度之量测法,其中上述量测该光源透射过该原稿后之照度为量测该光源之某范围之波长的照度。9.如申请专利第1项之相对照度之量测法,其中上述量测该光源透射过该原稿后之照度为二维照度値。10.一种相对照度之量测法,其方法包含:量测一光源透射过一原稿之0到90度的各角度的透射率;量测一扫描器之光源透射过该原稿后之照度;以及除以一透射率或乘上该透射率的倒数,换算得知该扫描器之光源照射至该原稿面之照度。11.如申请专利第10项之相对照度之量测法,其中上述量测该光源透射过该原稿之0到90度的各角度的透射率为量测该原稿于反射角度为0到90度时的各角度之反射率后得该原稿之0到90度的各角度的透射率。12.如申请专利第10项之相对照度之量测法,其中上述之原稿为白色纸张。13.如申请专利第10项之相对照度之量测法,其中上述之原稿为非白色之物体。14.如申请专利第10项之相对照度之量测法,其中上述之扫描器光源为冷阴极灯管。15.如申请专利第10项之相对照度之量测法,其中上述之扫描器光源系选自于白光发光二极体、红光发光二极体、蓝光发光二极体、绿光发光二极体所组成之族群。16.如申请专利第10项之相对照度之量测法,其中上述量测该光源透射过该原稿之0到90度的各角度的透射率为量测该光源之某范围之波长的照度。17.如申请专利第10项之相对照度之量测法,其中上述量测该扫描器光源透射过该原稿后之照度为量测该扫描器光源之某范围之波长的照度。18.如申请专利第10项之相对照度之量测法,其中上述量测该光源透射过该原稿后之照度为二维照度値。图式简单说明:第一A图系以冷阴极灯管为光源之扫描器扫描时的示意图时;第一B图系冷阴极灯管光源偏向集光器一侧的侧视示意图时;第一C图系冷阴极灯管光源前后偏向聚光器的相对一侧的侧视示意图时;第一D图系冷阴极灯管光源偏向集光器一侧时的光场侧视示意图时;第一E图系冷阴极灯管光源前后偏向聚光器的相对一侧时的光场侧视示意图时;第一F图系习知技艺中,于扫描器底部开一量测孔以量测反射照度之示意图;第一G图系习知技艺中,于加一反射镜于扫描器内部量测反射照度之示意图;第二A图系本发明之一实施例量测原稿透射率之示意图;第二B图系本发明之一实施例量测原稿反射率之示意图;第二C图系本发明之一实施例量测光源直射时照度之示意图;第二D图系本发明之一实施例量测光源透射照度之示意图;第二E图系量测到光源之理想光场形状之侧视示意图;
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