发明名称 光阻材料及图型之形成方法
摘要 本发明系为一种光阻材料,其系含有具有以下述式(1)表示之重覆单位之重量平均分子量为1,000~500,000之高分子化合物,093114794-p01.bmp(式中,R^1为H、OH之烷基、卤原子或三氟甲基,R^2为H、OH、卤原子或三氟甲基,Y为甲基、乙基或丙基,n为0或1~4之正整数)。本发明系大幅提高曝光前后之硷溶解速度的对比,且于高感度下,可实现微细区域之高解像性,特别适合作为超LSI制造用之微细图案形成材料。
申请公布号 TW200504466 申请公布日期 2005.02.01
申请号 TW093114794 申请日期 2004.05.25
申请人 信越化学工业股份有限公司 发明人 武田隆信;渡边修;万场大辅
分类号 G03F7/039 主分类号 G03F7/039
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本