发明名称 |
レーザーマイクロダイセクションシステムのレーザー偏向装置を較正するための方法およびレーザーマイクロダイセクションシステム |
摘要 |
レーザーマイクロダイセクションシステムの顕微鏡の落射装置内のレーザー偏向装置を較正する方法を提案する。このレーザー偏向装置によって、レーザーマイクロダイセクションシステムのレーザーユニットによって生成され、落射装置によって、顕微鏡の顕微鏡対物レンズを通るように案内されたレーザービームが、レーザー偏向装置への駆動制御信号によって規定された、顕微鏡対物レンズの対象物面内の所定の位置へ偏向される。レーザーマイクロダイセクションシステムは、さらに、画像評価モジュールを備えたデジタル画像検出ユニットを有している。この方法は、較正対象物(52)を、顕微鏡対物レンズの対象物面内に位置付けすることと、位置設定値に基づいて、かつ、第1の較正値を用いて計算された第1の駆動制御信号によってレーザー偏向装置を駆動制御することと、レーザービームを用いて、少なくとも1つの較正マーク(53)を較正対象物(52)上に作成することを含んでいる。次に、較正対象物(52)を、デジタル画像検出ユニットによって検出し、画像評価モジュールによって、少なくとも1つの較正マークの位置実際値を求め、位置設定値と位置実際値との関係に基づいて、第2の較正値を決定する。相応のレーザーマイクロダイセクションシステムも本発明の対象である。 |
申请公布号 |
JP2016534404(A) |
申请公布日期 |
2016.11.04 |
申请号 |
JP20160537243 |
申请日期 |
2014.08.22 |
申请人 |
ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングLeica Microsystems CMS GmbH |
发明人 |
ファルク シュラウドラフ;チーン ターン |
分类号 |
G02B21/00 |
主分类号 |
G02B21/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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