发明名称 X-ray diffractometer with a high momentary resolution.
摘要 Die Erfindung geht von einem Röntgendiffraktometer mit einem ortsempfindlichen Detektor aus, bei dem in einem digitalen Addierer die Summe aus den digitalen Werten für den jeweiligen Ort des Detektors und für die Lage jedes registrierten Röntgenquants im Detektor gebildet und zur Adressenansteuerung eines Vielkanal-Analysators verwendet wird. Um auch die Aufnahme von Beugungsprofilen in Abhängigkeit von einem Meßparameter wie Temperatur oder Druck zu ermöglichen, ist vorgesehen, dem Addierer (20) zusätzlich das Ausgangssignal eines digitalen Bereichsumschalters (13) zuzuführen, der durch einen Meßparameter (14) an der Probe (2) angesteuert ist.
申请公布号 EP0015475(A1) 申请公布日期 1980.09.17
申请号 EP19800100931 申请日期 1980.02.25
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT BERLIN UND MUNCHEN 发明人 GOBEL, HERBERT, DR.
分类号 G01N23/20;G01N23/207;(IPC1-7):G01N23/20 主分类号 G01N23/20
代理机构 代理人
主权项
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