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发明名称 JIG FOR MEASURING DC CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTIVE DEVICE
摘要
申请公布号 JPS6234077(A) 申请公布日期 1987.02.14
申请号 JP19850174641 申请日期 1985.08.07
申请人 NEC CORP 发明人 OHATA NORIYUKI
分类号 G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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