发明名称 METHOD FOR THERMAL CURING OF IMPLANTATION-DOPED SILICON CARBIDE SEMICONDUCTORS
摘要 <p>Ein durch Implantation dotierter Siliziumcarbid-Halbleiter (10i) wird in einem Gasstrom (12), der praktisch keinen Kohlenstoff an den Siliziumcarbid-Halbleiter (10i) heranführt, thermisch ausgeheilt. In einer vorteilhaften Ausführungsvariante bestehen der Behälter (13), der Träger (16), die Strahlungsschilde (14, 15) und die Bodenplatte (17) zumindest an den Stellen, die mit dem Gasstrom (12) in Kontakt treten, aus einem Metall oder einer Metallverbindung, wie z.B. aus Tantal oder aus Tantalcarbid.</p>
申请公布号 WO1999017345(A1) 申请公布日期 1999.04.08
申请号 DE1998002722 申请日期 1998.09.14
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
地址