发明名称 卷尺改良结构
摘要 本创作系关于一种卷尺改良结构,其主要系于上壳盖及下壳体所对合而成的壳体中设置伸缩棒,该伸缩棒末端设置长穿孔,长穿孔可供卷尺穿入并由伸缩棒顶端穿出,卷尺前端固设铅垂,所以,本创作可以拉出伸缩棒,且藉着伸缩棒来支撑具弯曲弹性之卷尺,使伸缩棒可顶到欲测量处之高度位置,而使卷尺可由铅垂重量向下掉落拉直,使卷尺可更为准确的测量出高度之全长,同时,可对于工作面的垂直度进行测量,因此,本创作之设计,具有极佳之实用功效,而非常适于高度及垂直度之测量工作加以使用。
申请公布号 TW417782 申请公布日期 2001.01.01
申请号 TW088222500 申请日期 1999.12.31
申请人 林心正 发明人 林心正
分类号 G01B3/10 主分类号 G01B3/10
代理机构 代理人 林镒珠 台北市长安东路二段一一二号九楼
主权项 1.一种卷尺改良结构,其中,该卷尺结构包括可上下对合之上壳盖及下壳盖组成壳体,上壳盖各角落设置固定杆,下壳盖各角落设置相对于固定杆之定位柱,定位柱中设置定位孔,定位孔可供固定杆插设其中,下壳盖周边适当处设置开口槽,下壳盖之容置空间中设置柱体,柱体周面设置卡槽,卡槽可供具有扭曲弹性之螺旋卷收条末端所形成的钩边插设其中,螺旋卷收条周面设置具弯曲弹性之卷尺,其特征在于:上壳盖及下壳体所对合而成的壳体上设置伸缩棒,伸缩棒末端设置长穿孔,长穿孔可供卷尺穿入并由伸缩棒顶端穿出,卷尺前端固设铅垂。2.如申请专利范围第1项所述之卷尺改良结构,其中,卷尺前端所固设的铅垂可藉由定位钩片加以定位。3.如申请专利范围第1项所述之卷尺改良结构,其中,铅垂表面设置刻度。4.如申请专利范围第1项所述之卷尺改良结构,其中,伸缩棒可设于壳体内侧。5.如申请专利范围第1项所述之卷尺改良结构,其中,伸缩可藉由铰链枢设于壳体外侧。6.如申请专利范围第5项所述之卷尺改良结构,其中,伸缩棒表面设置刻度。图式简单说明:第一图:系本创作之立体分解图。第二图:系本创作组合且打开上壳盖之上视形态示意图。第三图:系本创作之伸缩棒抽出之实施例示意图。第四图:系本创作用于测量高度之实施例图。第五图:系本创作测量工作面垂直度之实施例图。第六图:系本创作另一形态之示意图。第七图:习用卷尺结构之示意图。
地址 台北巿延平南路十号
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