发明名称 在大量定制环境中验证系统组态之方法
摘要 一种当所有的有效组态集合过于庞大以致无法实际地穷举时而用于验证一特定装置组态之方法。该方法至少包含如下步骤,即选取一待加纳入于该装置组态内之诸元件的集合,其中该集合在该集合内具有仅具排槽介面之单一排槽元件;对各个元件定义一介面,其中各个元件之特征为具有一来源或一排槽性质;以及根据各个元件之介面来建立诸元件间的连接。彼等连接系藉由确保该来源与排槽诸元具有相同性质数值所验证。彼等连接系藉由确认该排槽容量确大于或等于来源容量、并同时决定对于各个来源性质确有一排槽性质具有相同数值,且对于各个排槽性质确有一来源性质具有相同数值所建立。
申请公布号 TW518478 申请公布日期 2003.01.21
申请号 TW090120152 申请日期 2001.08.16
申请人 万国商业机器公司 发明人 内森S 卡斯维尔;艾尼倪葛
分类号 G06F17/00 主分类号 G06F17/00
代理机构 代理人 蔡坤财 台北市中山区松江路一四八号十二楼
主权项 1.一种当所有的有效组态集合过于庞大以致无法实际地穷举时而用于验证一特定装置组态之方法,该方法至少包含下列步骤:选取一待加纳入于该装置组态内之诸元件的集合,其中该集合具有一具仅排槽介面之单一基本元件;对各个元件定义一介面,其中各个元件之特征为具有一来源或一排槽介面,以及相关于该介面之诸性质;并且建立诸多具来源和排槽介面而拥有相符性质之元件间的连接。2.申请专利范围第1项所述之方法,其中上述之性质包含一方向、一容量与一特征性质。3.申请专利范围第2项所述之方法,其中上述之方向性质具有一可作为来源或排槽介面之介面。4.申请专利范围第2项所述之方法,其中上述之容量性质是按一相关于该者所支援之诸多排槽连接实例,或是该者所要求之来源实例的基数而表示。5.申请专利范围第2项所述之方法,其中上述之容量性质会被表示成可被分配于诸连接介面之连续量値。6.申请专利范围第2项所述之方法,其中上述之特征性质可定义该介面的目的与运作。7.申请专利范围第6项所述之方法,其中上述之特征性质包括相关于该介面的数値。8.申请专利范围第1项所述之方法,其中更包含验证诸元件间连接的步骤。9.申请专利范围第8项所述之方法,其中该验证步骤包含下列步骤:辨识彼等连接系藉由确认该排槽容量确大于或等于来源容量;辨识对于各个来源性质确有一排槽性质具有相同数値;并且辨识对于各个排槽性质确有一来源性质具有相同数値所建立。10.申请专利范围第8项所述之方法,其中如果诸元件中其一者具有容量性质或特征性质,而相对应之介面元件并不具有相对应之容量性质或特征性质,则来源与排槽间的连接仍保持有效。11.申请专利范围第1项所述之方法,其中该选取步骤至少包含下列步骤:在仅具单一排槽介面之集合中识别出基本元件;搜寻该集合,俾以找出其来源介面相符于开放排槽介面者;建立起该排槽元件和搜寻步骤中所寻获元件之诸相符介面间的连接;搜寻该集合内具有开放来源介面的元件,如寻获,则搜寻该集合的元件会被以找出相符排槽介面者,如寻获,则建立起该具有开放来源介面的元件和该具有相符排槽介面的元件间之连接;以及重覆进行产生与搜寻步骤,直到集合里确无存留任何元件,或集合里确无相符于一排槽介面的来源介面。12.申请专利范围第11项所述之方法,其中更包含验证组态的步骤,其中如果集合里确无存留元件,或集合里确无相符的开放来源介面,则该组态为有效。13.申请专利范围第1项所述之方法,其中上述之特定装置的部分组态可被定义成一开放来源或排槽介面,更包含将环境元件引入该装置组态的步骤,而该环境元件可透过一介面集合来定义该组态的所欲环境。14.申请专利范围第13项所述之方法,其中上述之特定装置的部分组态系一开放来源介面,并且该环境元件包含一相符的排槽介面。15.申请专利范围第13项所述之方法,其中上述之特定装置的部分组态系一开放排槽介面,并且该环境元件包含一相符的来源介面。16.申请专利范围第1项所述之方法,其中上述之特定装置的元件为一逻辑元件,而当规格是指该组态的各种客观、可测量性质时,可定义一组态的外部规格。17.申请专利范围第16项所述之方法,其中在一有效组态里,上述之逻辑元件含有至少一个排槽介面,而该者会被连接到该装置组态里一些其它元件之逻辑性或功能性来源介面。图式简单说明:第1图为说明诸元件、来源介面、排槽介面与其连接间关系之略图;第2图为显示三种与来源介面与排槽介面相关的性质型态之略图;第3图为显示部分有效组态之略图;以及第4A和4B图并同为显示建立诸元件间介面连接之逻辑流程图。
地址 美国