发明名称 互连之加强
摘要 揭示一种在半导体装置中用于互连结构之方法、装置、系统及机器可读取媒体以及形成该半导体装置之方法。实施例包含一掺杂碳及掺杂矽之互连,该互连的矽浓度可以避免在一互连与一钝化层(passivationlayer)之间形成一矽化铜层。一些实施例在与活化能及/或平均失效时间有关之电子迁移可靠性中提供意想不到的结果。
申请公布号 TW200303081 申请公布日期 2003.08.16
申请号 TW092101009 申请日期 2003.01.17
申请人 英特尔公司 发明人 史蒂芬T 黔伯斯;佛拉利M 杜宾;安德鲁W 奥特;克利斯汀S 修 利吉
分类号 H01L23/522 主分类号 H01L23/522
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 美国