发明名称 以检查位元对指令进行加密保护之装置及方法
摘要 本发系提出一种以检查位元对指令进行加密保护之装置及方法,其包含有一检查位元产生装置、一第一检查位元位置产生装置及一检查位元插入装置。该检查位元产生装置系依据一欲输出之指令以产生一检查位元,其中,该指令具有复数个位元;该第一检查位元位置产生装置依据该指令及一预定之法则以产生该检查位元的插入位置N(N为正整数);该检查位元插入装置依据该第一检查位元位置产生装置所产生之插入位置N,将该检查位元插入该指令之第N-1与第N位元之中,以产生一加密之指令。
申请公布号 TWI224257 申请公布日期 2004.11.21
申请号 TW092123816 申请日期 2003.08.28
申请人 凌阳科技股份有限公司 发明人 梁伯嵩
分类号 G06F11/10 主分类号 G06F11/10
代理机构 代理人 吴冠赐 台北市松山区敦化北路一○二号九楼;林志鸿 台北市松山区敦化北路一○二号九楼;杨庆隆 台北市松山区敦化北路一○二号九楼
主权项 1.一种以检查位元对指令进行加密保护之装置,该装置包含:一检查位元产生装置,系依据一欲输出之指令以产生一检查位元,该指令具有复数个位元;一第一检查位元位置产生装置,其依据该指令及一预定之法则以产生该检查位元的插入位置N(N为正整数);以及一检查位元插入装置,系依据该第一检查位元位置产生装置所产生之插入位置N,将该检查位元插入该指令之第N-1与第N位元之中,以产生一加密之指令。2.如申请专利范围第1项所述之装置,其更包含:一第二检查位元位置产生装置,其依据该指令及该预定之法则以产生该检查位元的插入位置;以及一检查位元去除装置,系输入该指令,并依据该第二检查位元位置产生装置所产生之插入位置N,以将该指令之第N位元去除。3.如申请专利范围第2项所述之装置,其中,该第一及第二检查位元位置产生装置系依据该指令之格式及一特定値整数经一向右旋转函数运算以产生插入位置。4.如申请专利范围第2项所述之装置,其中,该检查位元位置产生装置系依据该指令之格式及一特定値整数经一向左旋转函数运算以产生插入位置。5.如申请专利范围第1项所述之装置,其中,该指令系31位元。6.如申请专利范围第1项所述之装置,其中的检查位元为同位检查位元。7.如申请专利范围第1项所述之装置,其中的检查位元为纠错码检查位元。8.如申请专利范围第1项所述之装置,其中的检查位元为CRC(循环冗余检查)检查位元。9.一种以检查位元对指令进行加密保护之装置,该装置包含:一检查位元产生装置,系依据一欲输出之指令经一检查演算装置以产生以产生P个检查位元,P为大于或等于一之正整数,该指令具有复数个位元(I位元);一第一检查位元位置产生装置,其依据该指令及一预定之法则以产生该检查位元的插入位置N1…NP(N、P为整数);以及一检查位元插入装置,系依据该第一检查位元位置产生装置所产生之插入位置N1…NP,将该P个检查位元,分别插入该指令之第NX-1与第NX位元之中,其中x=1..P,以产生一加密之指令。10.如申请专利范围第9项所述之装置,其更包含:一第二检查位元位置产生装置,其依据该指令及该预定之法则以产生该检查位元的插入位置N1…NP;以及一检查位元去除装置,系输入该指令,并依据该第二检查位元位置产生装置所产生之插入位置N1…NP,以将该指令之P个检查位元去除。11.如申请专利范围第9项所述之装置,其中的检查演算装置为同位检查装置。12.如申请专利范围第9项所述之装置,其中的检查演算装置为纠错码装置。13.如申请专利范围第9项所述之装置,其中的检查演算装置为CRC(循环冗余检查)装置。14.如申请专利范围第10项所述之装置,其中,该第一及第二检查位元位置产生装置系依据该指令之格式及一特定値整数经一向右旋转函数运算以产生插入位置。15.如申请专利范围第10项所述之装置,其中,该检查位元位置产生装置系依据该指令之格式及一特定値整数经一向左旋转函数运算以产生插入位置。16.如申请专利范围第9项所述之装置,其中,I+P=32。17.一种以检查位元对指令进行加密保护之装置,每一指令具有一运算码(op code),该装置包含:一检查位元产生装置,系依据一欲输出之指令以产生一检查位元,该指令具有复数个位元(I位元);一第一检查位元位置产生装置,其依据该指令之运算码及一预定之法则以产生该检查位元的插入位置N(N为正整数);以及一同位检查位元插入装置,系依据该第一检查位元位置产生装置所产生之插入位置N,将该同位检查位元插入该指令之第N-1与第N位元之中,以产生一加密之指令。18.如申请专利范围第17项所述之装置,其更包含:一第二检查位元位置产生装置,其依据该指令之运算码及该预定之法则以产生该同位检查位元的插入位置;以及一检查位元去除装置,输入该加密之指令,并依据该第二检查位元位置产生装置所产生之插入位置N,以将该指令之第N位元去除。19.如申请专利范围第18项所述之装置,其中,该第一及第二检查位元位置产生装置系依据该指令运算码及一特定値整数经一向右旋转函数运算以产生插入位置。20.如申请专利范围第18项所述之装置,其中,该第一及第二检查位元位置产生装置系依据该指令运算码及一特定値整数经一向左旋转函数运算以产生插入位置。21.如申请专利范围第17项所述之装置,其中,该指令系31位元。22.如申请专利范围第17项所述之装置,其中的检查位元为同位检查位元。23.如申请专利范围第17项所述之装置,其中的检查位元为纠错码检查位元。24.如申请专利范围第17项所述之装置,其中的检查位元为CRC(循环冗余检查)检查位元。25.一种以检查位元对指令进行加密保护之装置,每一指令具有一运算码(op code),该装置包含:一检查位元产生装置,系依据一欲输出之指令经一检查演算装置以产生P个检查位元,该指令具有复数个位元(I位元);一第一检查位元位置产生装置,其依据该指令之运算码及一预定之法则以产生该检查位元的插入位置N1…NP(N、P为整数),其中,该插入位置N1…NP不为该运算码在该指令中之位置;以及一检查位元插入装置,系依据该第一检查位元位置产生装置所产生之插入位置N1…NP,将该P个检查位元,分别插入该资料之第NX-1与第NX位元之中,其中x=1..P,以产生一加密之指令。26.如申请专利范围第25项所述之装置,其更包含:一第二检查位元位置产生装置,其依据该指令之运算码及该预定之法则以产生该检查位元的插入位置N1…NP;以及一检查位元去除装置,输入该加密之指令,并依据该第二检查位元位置产生装置所产生之插入位置N1…NP,以将该加密指令之P个检查位元去除。27.如申请专利范围第25项所述之装置,其中的检查演算装置为同位检查装置。28.如申请专利范围第25项所述之装置,其中的检查演算装置为纠错码装置。29.如申请专利范围第25项所述之装置,其中的检查演算装置为CRC(循环冗余检查)装置。30.如申请专利范围第25项所述之装置,其中,该第一及第二检查位元位置产生装置系依据该指令运算码及一特定値整数经一向右旋转函数运算以产生插入位置。31.如申请专利范围第25项所述之装置,其中,该第一及第二检查位元位置产生装置系依据该指令运算码及一特定値整数经一向左旋转函数运算以产生插入位置。32.如申请专利范围第25项所述之装置,其中,I+P=32。33.一种以检查位元对指令进行加密保护之方法,该方法主要包含下列步骤:(A)依据一欲输出之指令以产生一检查位元,该指令具有复数个位元;(B)系依据该指令及一预定之法则以产生该检查位元的插入位置N;以及(C)依据步骤(B)所产生之插入位置N,将步骤(A)所产生之同位检查位元插入该指令之第N-1与第N位元之中,以产生一加密之指令。34.如申请专利范围第33项所述之方法,其更包含下列步骤:(D)输入收该加密之指令;(E)依据该指令及法则以产生该检查位元的插入位置N;以及(F)依据步骤(E)所产生之插入位置N,将该指令之第N位元去除。35.如申请专利范围第34项所述之方法,其中,步骤(B)及(E)系依据该指令之格式及一特定値整数经一向右旋转函数运算以产生插入位置。36.如申请专利范围第34项所述之方法,其中,步骤(B)及(E)系依据该指令之格式及一特定値整数经一向左旋转函数运算以产生插入位置。37.如申请专利范围第33项所述之方法,其中,该指令系31位元。38.如申请专利范围第33项所述之方法,其中的检查位元为同位检查位元。39.如申请专利范围第33项所述之方法,其中的检查位元为纠错码检查位元。40.如申请专利范围第33项所述之方法,其中的检查位元为CRC(循环冗余检查)检查位元。41.一种以检查位元对指令进行加密保护之方法,该方法包含下列步骤:(A)依据一欲输出之指令经一检查演算法则以产生P个检查位元,该指令具有复数个位元(I位元),P为大于或等于一之正整数;(B)系依据该指令及一预定之第一法则以产生该同位检查位元的插入位置N1…NP(N、P为整数):以及(C)依据步骤(B)所产生之插入位置N1…NP,将步骤(A)所产生该P个检查位元,分别插入该指令之第NX-1与第NX位元之中,其中x=1..P,以产生一加密之指令。42.如申请专利范围第41项所述之方法,其更包含下列步骤:(D)输入收该加密之指令;(E)依据该指令及该第一法则以产生该检查位元的插入位置N1…NP;以及(F)依据步骤(E)所产生之插入位置N1…NP,将输入之该加密指令的P个检查位元去除。43.如申请专利范围第41项所述之方法,其中,该检查演算法则为同位检查法则。44.如申请专利范围第41项所述之方法,其中,该检查演算法则为纠错码法则。45.如申请专利范围第41项所述之方法,其中,该检查演算法则为CRC(循环冗余检查)法则。46.如申请专利范围第42项所述之方法,其中,步骤(B)及(E)系依据该指令之格式及一特定値整数经一向右旋转函数运算以产生插入位置。47.如申请专利范围第42项所述之方法,其中,步骤(B)及(E)系依据该指令之格式及一特定値整数经一向左旋转函数运算以产生插入位置。48.如申请专利范围第42项所述之方法,其中,I+P=32。49.一种以同位检查位元对指令进行加密保护之方法,每一指令具有一运算码,该方法主要包含下列步骤:(A)依据一欲输出之指令以产生一同位检查位元,该指令具有复数个位元(I位元);(B)依据该指令之运算码及一预定之法则以产生该同位检查位元的插入位置N(N为正整数),其中,该插入位置N不为该运算码在该指令中之位置;以及(C)依据步骤(B)所产生之插入位置N,将步骤(A)所产生之同位检查位元插入该指令之第N-1与第N位元之中,以产生一加密之指令。50.如申请专利范围第49项所述之方法,其更包含下列步骤:(D)输入该加密之指令;(E)依据该指令之运算码及该法则以产生该同位检查位元的插入位置N;以及(F)依据步骤(E)所产生之插入位置N,将该加密指令中之第N位元去除。51.如申请专利范围第50项所述之方法,其中,步骤(B)及(E)系依据该指令运算码及一特定値整数经一向右旋转函数运算以产生插入位置。52.如申请专利范围第50项所述之方法,其中,步骤(B)及(E)依据该指令运算码及一特定値整数经一向左旋转函数运算以产生插入位置。53.如申请专利范围第49项所述之方法,其中,该指令系31位元。54.如申请专利范围第49项所述之方法,其中的检查位元为同位检查位元。55.如申请专利范围第49项所述之方法,其中的检查位元为纠错码检查位元。56.如申请专利范围第49项所述之方法,其中的检查位元为CRC(循环冗余检查)检查位元。57.一种以检查位元对指令进行加密保护之方法,每一指令具有一运算码,该方法主要包含下列步骤:(A)依据一欲输出之指令经一检查演算法则以产生P个检查位元,该指令具有复数个位元(I位元),P为大于或等于一之正整数;(B)依据该指令之运算码及一预定第一法则以产生该检查位元的插入位置N1…NP(N,P为整数),其中,该插入位置N1…NP不为该运算码在该指令中之位置;以及(C)依据步骤(B)所产生之插入位置N1…NP,将该P个检查位元,分别插入该指令之第NX-1与第NX位元之中,其中x=1..P,以产生一加密之指令。58.如申请专利范围第57项所述之方法,其更包含下列步骤:(D)输入该加密之指令;(E)依据该指令之运算码及该第一法则以产生该检查位元的插入位置N1…NP;以及(F)依据步骤(E)所产生之插入位置N1…NP,将输入之该加密指令的P个检查位元去除。59.如申请专利范围第57项所述之方法,其中,该检查演算法则为同位检查法则。60.如申请专利范围第57项所述之方法,其中,该检查演算法则为纠错码法则。61.如申请专利范围第57项所述之方法,其中,该检查演算法则为CRC(循环冗余检查)法则。62.如申请专利范围第58项所述之方法,其中,步骤(B)及(E)系依据该指令运算码及一特定値整数经一向右旋转函数运算以产生插入位置。63.如申请专利范围第58项所述之方法,其中,步骤(B)及(E)依据该指令运算码及一特定値整数经一向左旋转函数运算以产生插入位置。64.如申请专利范围第58项所述之方法,其中,I+P=32。图式简单说明:图1:系本发明之以检查位元对指令进行加密保护之装置的架构图。图2:系本发明之一实施例之插入位置的示意图。图3:系本发明之另一实施例之插入位置的示意图。图4:系依据本发明之一应用范例。
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