发明名称 光电二极体阵列及其制造方法,及放射线检测器
摘要 一种光电二极体阵列及其制造方法以及放射线检测器,其课题为防止在封装时因光检测部之损伤而造成杂音之发生。一种光电二极体阵列,系在n型矽基板(3)之被检测光的入射面侧,以阵列状形成复数个光电二极体(4),且贯通入射面侧与其背面侧之贯通配线(8)系形成在光电二极体(4),在其入射面侧,设置比各光电二极体(4)的形成区域更凹陷之具有规定深度之凹部(6),在其凹部(6)设置光电二极体(4)以形成光电二极体阵列(1)。
申请公布号 TW200428672 申请公布日期 2004.12.16
申请号 TW093106307 申请日期 2004.03.10
申请人 滨松赫德尼古斯股份有限公司 发明人 柴山胜己
分类号 H01L31/09 主分类号 H01L31/09
代理机构 代理人 何金涂;何秋远
主权项
地址 日本