| 发明名称 |
DEVICE FOR APPLYING TEST SIGNAL HAVING TWO LOGIC STATE TO INPUT OF LOGIC CIRCUIT AND APPLICATION TO AUTOMATIC INSPECTION |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS58189567(A) |
申请公布日期 |
1983.11.05 |
| 申请号 |
JP19830035695 |
申请日期 |
1983.03.04 |
| 申请人 |
COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE;FURAMATOOMU;MERLIN GERIN SA |
发明人 |
MISHIERU KORONBE |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/317;G01R31/319;G21C17/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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