一种相位量化A/D变换的方法及其装置

摘要

本发明公开了一种相位量化A/D变换的方法及其装置。其装置包括：(a)一个移相装置[1]，把输入的模拟信号变换成具有2n-1个不同相位的输出信号；(b)与移相装置[1]的输出相连接的2n-1个电压比较器[2]，通过对由移相装置[1]产生的2n-1个输出信号进行极性比较，产生2n-1个二进制数字代码；(c)一个与2n-1个电压比较器[2]的输出相连接的编码器[3]，用于把电压比较器[2]产生的2n-1个二进制数字代码编码成nbit的二进制数字代码。本发明所述方法及其装置可用于雷达、通信、电子战及测试设备等领域。

主权项

1、一种把输入模拟信号变换成数字信号的相位量化A/D变换方法，包括以下步骤：a.对输入模拟信号进行移相，产生相位分别为：0，±θ1，i＝1，2，…，2-1-1的2n-1个具有不同相位的输出信号，其中，n为量化位数，n≥2；b.对经移相产生的2n-1个信号进行极性比较，产生2n-1个二进制数字代码；c.将经极性比较产生的2n-1个二进制数字代码进行编码，形成nbit的二进制数字代码。