发明名称 带有准直器的X-光检查装置
摘要 一种X-光检查装置包括一个准直器(4),该准直器具有用于限制X-光束(2)的光阑(8),在光阑的第一设定状态,光阑的圆形孔径(31)具有第一直径,在光阑的第二设定状态,光阑的圆形孔径(31)具有第二直径。准直器(4)还包括具有可拆卸的滤光器元件的一个X-光滤光器(20)。
申请公布号 CN1149927A 申请公布日期 1997.05.14
申请号 CN96190300.7 申请日期 1996.02.12
申请人 菲利浦电子有限公司 发明人 J·A·特罗森;J·J·德赖斯;B·H·曼斯齐
分类号 G21K1/04;G21K1/10;G21K3/00 主分类号 G21K1/04
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 王勇;傅康
主权项 1.一种X-光检查装置,它包括:一个X-光源(1),用于发射一束X-光(2)以形成一个物体(3)的X-光图象,一个X-光探测器(5),用于摄取X-光图象,一个光阑(8),其设置在所说的X-光源(1)与所说的X-光探测器(5)之间,具有限制X-光束(2)的可调孔径(31),所说的光阑(8)包括若干不透X-光的叶片(9),这些叶片限定了孔径(31)的边界,并且可以在基本垂直于光阑(8)的中心轴的方向上移动换位,其特征在于:在孔径(31)的第一设定状态,叶片(9)构成具有第一直径的基本为圆形的孔径,及在孔径(31)的第二设定状态,叶片(9)构成具有第二直径的基本为圆形的孔径。
地址 荷兰艾恩德霍芬
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