发明名称 |
带有准直器的X-光检查装置 |
摘要 |
一种X-光检查装置包括一个准直器(4),该准直器具有用于限制X-光束(2)的光阑(8),在光阑的第一设定状态,光阑的圆形孔径(31)具有第一直径,在光阑的第二设定状态,光阑的圆形孔径(31)具有第二直径。准直器(4)还包括具有可拆卸的滤光器元件的一个X-光滤光器(20)。 |
申请公布号 |
CN1149927A |
申请公布日期 |
1997.05.14 |
申请号 |
CN96190300.7 |
申请日期 |
1996.02.12 |
申请人 |
菲利浦电子有限公司 |
发明人 |
J·A·特罗森;J·J·德赖斯;B·H·曼斯齐 |
分类号 |
G21K1/04;G21K1/10;G21K3/00 |
主分类号 |
G21K1/04 |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
王勇;傅康 |
主权项 |
1.一种X-光检查装置,它包括:一个X-光源(1),用于发射一束X-光(2)以形成一个物体(3)的X-光图象,一个X-光探测器(5),用于摄取X-光图象,一个光阑(8),其设置在所说的X-光源(1)与所说的X-光探测器(5)之间,具有限制X-光束(2)的可调孔径(31),所说的光阑(8)包括若干不透X-光的叶片(9),这些叶片限定了孔径(31)的边界,并且可以在基本垂直于光阑(8)的中心轴的方向上移动换位,其特征在于:在孔径(31)的第一设定状态,叶片(9)构成具有第一直径的基本为圆形的孔径,及在孔径(31)的第二设定状态,叶片(9)构成具有第二直径的基本为圆形的孔径。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |