| 主权项 |
1.一种过敏原粒子检测装置,用以侦测周围空气中过敏原粒子的存在,包括:一光源,用以将光束在光径中导引通过周围空气样本,其中部分光束即由空气中存在之任意粒子散射;一光束阻隔装置,位于光径中,用来只传送依预定过敏原粒子尺寸范围决定的预定角度范围内散射之所有光线;及一检测器,其位置可侦测由该光束阻隔装置传送之光线,并依接收光量产生一成比例输出値。2.根据申请专利范围第1项之装置,包括一控制回路连接至检测器的输出,若检测器输出値超过一预定値时,将产生一警示输出讯号。3.根据申请专利范围第2项之装置,包括一空气滤器,用以过滤掉周围空气中过敏原尺寸粒子,该空气滤器具有一开关连到控制回路,以回应该警示输出讯号将空气滤器打开。4.根据申请专利范围第1项之装置,其中该光源具有一中央光轴而阻隔装置,包括一以该光轴为中心且具有预定直径之圆形光束阻隔构件,该光束阻隔构件对由该光源传送之波长光线为不透明,而该预定直径至少等于由该光源传送之光束直径,因此通过空气样本期间未散射部分之至少部份光束系由该光束阻隔构件阻挡。5.根据申请专利范围第4项之装置,其中该预定直径比该未散射光束直径为大,而该直径足以阻挡以低于预定最小角散射之光线。6.根据申请专利范围第4项之装置,其中该最小角为4度。7.根据申请专利范围第4项之装置,其中该光线阻隔装置进一步包括一以该光轴为中心之光阻材料圆环,并包围该圆形光束阻隔构件,圆环具有一比该圆形构件直径大之预定内径,以阻挡以大于预定最大散射角散射之光线。8.根据申请专利范围第7项之装置,其中该最大散射角为27度。9.根据申请专利范围第1项之装置,其中该光束阻隔装置适可传送由尺寸0.5到500微米范围过敏原粒子散射之光线。10.根据申请专利范围第9项之装置,其中该光束阻隔装置适可传送由尺寸0.5到50微米范围过敏原粒子散射的光线。11.根据申请专利范围第1项之装置,包括一透镜用以将由光束阻隔装置传送光线聚焦到检测器上。12.一种过敏原粒子检测装置,用以侦测周围空气中过敏原粒子之存在,包括:一外壳,具有一通道供空气通过该壳;一光源,位于通道一侧上,用以导引光束穿过流经通道的空气;一光束阻隔装置,位于光束路径中通道另一侧上,用来传送以一预定散射角范围行进的光线,并阻挡住所有超出该散射角范围的光线;一检测器,位于该光束阻隔装置后方光径中,用以导引光线传过该光束阻隔装置,并依传送光量产生一成比例输出讯号;及一控制回路,连至检测器输出値,当检测器输出値超过一预定値时,用以产生一警示输出讯号。13.根据申请专利范围第12项之装置,包括一警讯指示装置,系连接至该控制回路并回应该警示输出讯号,及具有一由该警示输出讯号作动之警示状况指示器。14.根据申请专利范围第13项之装置,其中该警讯指示装置为一发光二极体。15.根据申请专利范围第12项之装置,包括一HEPA滤器连接到该控制回路,并具有一开关以回应该警示输出讯号而启动HEPA滤器。16.根据申请专利范围第12项之装置,其中该光源界定一光轴而该光束阻隔装置包括一以该光轴为中心之第一光线阻隔装置,以阻挡所有未散射光线及以低于预定最小角度散射之光线,及一第二光束阻隔装置,用以阻挡比预定最大散射角还大角度散射之光线。17.根据申请专利范围第12项之装置,包括第一及第二镜位于阻隔装置与检测器之间光径上,以将光径上行进之光反射180度。18.根据申请专利范围第12项之装置,包括一透明塑胶管可移动地安装于通道中,该管具有相对之开口端供空气流过该管。19.根据申请专利范围第18项之装置,包括一格栅安装于该管各开口端上。20.根据申请专利范围第12项之装置,其中该光源为一雷射二极体。21.根据申请专利范围第20项之装置,包括一定时回路连接至该雷射二极体,以控制二极体依预定间隔启动及关闭脉冲。22.根据申请专利范围第12项之装置,包括一调整装置以调整该预定间隔。23.根据申请专利范围第22项之装置,其中该调整装置包括一可变电阻。24.根据申请专利范围第22项之装置,其中该调整装置包括一数位计量器,以记录特定时程内过敏检测之发生次数。25.一种检测空气中过敏原粒子之方法,其步骤包括:将光束引导过周围空气样本,其中部分光束由空气样本中任意粒子散射;检测依照预定过敏原粒子尺寸范围之预定角范围内散射之光线;及依该预定角范围散射光量成比例发出一输出讯号。26.一种检测空气中过敏原粒子之方法;其步骤包括:提供一周围空气样本;检测空气中预定过敏原粒子尺寸范围内之任意粒子;若测得粒子値超过一预定値时,发出一输出讯号;及启动一空气过滤装置,以回应该输出讯号移除空气中之过敏源粒子。27.一种检测空气中过敏原粒子之方法,其步骤包括:将周围空气引导过一样本区域;将一光束横向引导过该样本区域,其中该部分光束将由光束路径中任意粒子散射;阻挡通道另一侧上之光束第一部分,并以一监别装置沿光径传送光束之第二预定部分;光束之第二预定部分包括在该样本区域内以一预定角范围内由过敏原尺寸粒子散射之所有光线;检测传过该监别装置之光量;及若测得光量超过一预定値时,发出一输出警示讯号。28.根据申请专利范围第27项之方法,其中该阻挡超过预定角范围散射部分光束之步骤包括在光径中放置一具有预定尺寸环形开口之光线阻隔装置,以传送预定角范围行进光线。29.根据申请专利范围第27项之方法,其中该预定角范围为4到27度。30.根据申请专利范围第27项之方法,其步骤包括使用该输出警示讯号以作动一过敏原过滤装置。31.根据申请专利范围第30项之方法:其步骤包括当测得光量降至预定値以下时关闭该过敏原过滤装置。32.一种过敏原粒子检测装置,用以侦测周围空气中过敏原粒子之存在,包括:一外壳,具有一通道供空气通过该壳;一光源,位于通道一侧上,用以导引光束穿过流经通道的空气;一光束阻隔装置,位于光束路径中通道另一侧上面对光源,用来阻挡直接传过通道而不散射之部分光束,并传送因与光径中粒子碰撞而散射之所有光线部分;一光通道,在壳内自光束阻隔装置延伸,以沿一光径将光线导引过光束阻隔装置;一监别装置,位于光径中,以传送依预定散射角范围行进之光线并阻挡超过该散射角范围而散射之光线;一检测器,位于该监别装置后方光径中,用以导引光线传过该监别装置,并依传送光量产生一成比例输出讯号;及一控制回路,连接至检测器输出値,当检测器输出値超过一预定値时,用以产生一警示输出讯号。33.根据申请专利范围第32项之装置,包括一警讯指示装置连接至该控制回路,并回应该警示输出讯号,及具有一由该警示输出讯号作动的警示状况指示器。34.根据申请专利范围第33项之装置,其中该警讯指示装置为一发光二极体。35.根据申请专利范围第32项之装置,包括一HEPA滤器连接到该控制回路,及具有一开关以回应该警示输出讯号而启动HEPA滤器。36.根据申请专利范围第32项之装置,其中该监别装置包括串立于光径中一透镜及一针孔装置,该针孔装置在一预定位置上传送以透镜后一预定角路径行进之光线。37.根据申请专利范围第36项之装置,其中该针孔位置可传送由5到50微米大小范围粒子散射之光线。38.根据申请专利范围第32项之装置,包括第一及第二镜位于阻隔装置与监别装置之间光径上,以将光径上行进之光反射180度。39.根据申请专利范围第32项之装置,包括一透明塑胶管可移动地安装于通道中,该管具有相对之开口端供空气流过该管。40.根据申请专利范围第39项之装置,包括一格栅安装于该管各开口端上。41.根据申请专利范围第32项之装置,其中该光源为一雷射二极体。42.根据申请专利范围第41项之装置,包括一定时回路连至该雷射二极体以控制二极体以预定间隔启动及关闭脉冲。43.根据申请专利范围第32项之装置,包括一调整装置以调整该预定値。44.根据申请专利范围第43项之装置,其中该调整装置包括一可变电阻。45.根据申请专利范围第43项之装置,其中该调整装置包括一数位计量器,以记录特定时程内过敏检测之发生次数。46.一种检测空气中过敏原粒子数量之方法,其步骤包括:将周围空气引导过一通道;将一光束自通道一侧横向引导过流经该通道之空气,其中该部分光束将由光束路径中任意粒子散射;阻挡通道另一侧上之直接光束,并沿一光径传送光束之所有散射部分;以光径中一监别装置阻挡超出依预定粒子尺寸范围的预定角范围之外方向行进的散射光束部分,包括在该样本区域内散射之所有光线,并传送所有在该预定角范围内行进之散射光束部分;检测传过该监别装置之光量;及若测得光量超过一预定値时,发出一输出警示讯号。47.根据申请专利范围第46项之方法,其中该阻挡超出预定角范围外之散射光束部分之步骤包括于光径中放置一具有预定位置上的针孔光线阻隔板,以传送预定角范围上行进之光线。48.根据申请专利范围第47项之方法,其中该预定角范围为30到40度。49.根据申请专利范围第46项之方法,其步骤包括使用输出警示讯号以作动一过敏原过滤装置。50.根据申请专利范围第49项之方法,其步骤包括当测得光量降至预定値以下时关闭过敏原过滤装置。图式简单说明:第一图为根据本发明第一实施例之一过敏原粒子检测装置的透视图;第二为光学系统的示意方块图;第三图电子控制回路之电路图;第四图为定时回路的电路图;第五图为定时图;第六图为根据本发明第二实施例之一过敏原粒子检测系统的方块图;及第七图为第六图之监别装置的正视图。 |
