| 主权项 |
1.一种针床替代式测试系统,为由标准卡式测试器(VXI)电子识别测试平台、具测试点连接器之待测电路板组、VXI测试器以及个人电脑构成,其中,该标准卡式测试器电子识别测试平台为包括:一平台机体,供容纳待测电路板之用;多数测试插座,为使用相同型式且相同接脚数量之插座为之,而分别供不同型但相同脚数之待测电路板插接进行测试;一平台电路母板,为以可程式逻辑阵列为主要构成,供做为前述各测试插座与系统滙流排之间的控制界面;一插板侦测手段,包括由逻辑插板侦测器所构成之侦测器组,侦测器组为设置在系统滙流排与测试插座之间,供量测出各测试插座是否插入待测电路板以及辨别电路板的型式;一电源输出调配手段,为以多电源输出回路模组以及继电器开关模组所构成,该继电器开关模组为串接在该多电源输出回路模组之各输出电压端点与测试平台之供电区之间,透过继电器开关模组之渐近式选择切换,形成区域性分段电力供应;藉以构成一种可在待测电路板插错位置时,可立即检知与告知正确位置,并在检测待测电路板位置是否正确时,更仅呈局部供电型态之电路板自动识别测试平台者。2.如申请专利范围第1项所述之针床替代式测试系统,其中该测试平台上更可设置一电路板烧录专用插座,而在平台母板内形成对应之烧录电路者。3.如申请专利范围第1项所述之针床替代式测试系统,其中该电源输出调配手段更包括有继电多工器以及数位多功能电表。4.如申请专利范围第1或3项所述之针床替代式测试系统,其中电源输出调配手段之测试平台供电区可划分为插板侦测系统供电区域、共同供电区域、各测试专用供电区域及其他功能供电区域,并采用区域性分段供电渐近方式供电者。5.如申请专利范围第1项所述之针床替代式测试系统,其中该插板侦测手段更包括有电脑辅助辨识手段,而可在检测期间以影片或动画方式导引使用者将待测电路板插入至正确位置。6.如申请专利范围第1或5项所述之针床替代式测试系统,其中该插板侦测手段更包括有快速电子序列量测手段,将侦测器组依照量测之特性区分,在电脑辅助辨识的指示下,进行电子逻辑准位之快速量测。图式简单说明:第一A图:系本发明之测试系统的外观图。第一B图:系本发明之测试系统之VXI模组的示意图。第一C图:系本发明之测试平台的外观图。第一D图:系本发明之测试平台的结构示意图。第一E图:系本发明之测试系统之VXI主机外观图。第一F图:系本发明之个人电脑内含特殊之通讯界面卡。第一G图:系本发明之个人电脑所相接之通讯缆线。第二图:系待测电路板之外观示意图。第三图:系本发明之测试状态的外观示意图。第四图:系本发明之测试平台电路方块图。第五A图:系传统地线电阻侦测器示意图。第五B图:系传统电源电阻侦测器示意图。第五C图:系传统各式插板侦器之配置示意图。第五D图:系本发明逻辑电位侦测器示意图。第五E图:系本发明逻辑电位侦测器之配置示意图。第六A图:系习知传统待测电路板之电源接脚分布图。第六B图:系习知传统待测电路板之测试点分布图。第七A图:系本发明待测电路板之电源接脚分布图。第七B图:系本发明待测电路板之测试点分布图。第八A图:系习知另一传统待测电路板之电源接脚分布图。第八B图:系习知另一传统待测电路板之测试点分布图。第九A圆:系本发明之多电源输出回路方块图。第九B图:系本发明之测试平台供电区域示意图。第十图:系本发明之系统动作流程图。第十一A图:系传统之电路板识别作业流程图。第十一B图:系本发明之电路板识别作业流程图。第十二图:系本发明之区域性分段供电动作流程图。第十三图:系习知自动光学电脑辨识测试器动作流程图。第十四图:系本发明之针床替代式测试系统之方块图。第十五图:系本发明之快速电子序列量测流程图。第十六图:系传统VXI序列量测插板侦测器流程图。第十七图:系VXI数位输出入模组界面电路图。第十八图:系本发明之电源输出调配手段之方块图。第十九图:测试平台母板之方块图。 |
