发明名称 正型光阻剂组成物
摘要 本发明可提供一种于制造半导体装置中使所得的阻体图案以扫描型电子显微镜(SEM)观察时具减轻线宽变动之正型光阻剂组成物。本发明系有关一种正型光阻剂组成物,其特征为含有(A)含有特定矽之重复单位、与具有特定脂环式构造之重复单位,且可藉由酸作用增大对硷显像液之溶解度的树脂(B)具特定构造之藉由活性光线或放射线产生酸的化合物。
申请公布号 TW513621 申请公布日期 2002.12.11
申请号 TW090102179 申请日期 2001.02.02
申请人 富士照相软片股份有限公司 发明人 佐藤健一郎
分类号 G03F7/075 主分类号 G03F7/075
代理机构 代理人 何金涂 台北巿大安区敦化南路二段七十七号八楼;何秋远 台北巿敦化南路二段七十七号八楼
主权项 1.一种正型光阻剂组成物,其包含:(A)含有以下述一般式(I)所示重复单位与下述一般式(II)所示重复单位且可藉由酸之作用增大对硷显像液之溶解度的树脂,(B)藉由活性光线或放射线产生酸之化合物,一般式(I)(其中,R1~R3系各表示独立的烷基、卤化烷基、卤素原子、烷氧基、三烷基矽烷基、或三烷基矽烷氧基;n系表示0或1)(其中,M系表示含有键结的2个碳原子(C-C)、为形成可具取代基之脂环式构造的原子团;R11.R12系各表示独立的氢原子、氰基、卤素原子或可具取代基之烷基)。2.如申请专利范围第1项之正型光阻剂组成物,其中(A)之树脂系另含有至少一种下述一般式(IIIa)或(IIIb)所示重复单位的重复单位,其中于一般式(IIIa)中,Z系表示氧原子、或-N-R3a;R3a系表示氢原子、羟基、具直链或支链之烷基或-O-SO2-R4a;R4a系表示烷基、三氟甲基;于一般式(IIIb),X1与X2系各表示独立的选自氧原子、硫原子、-NH-、-NHSO2-之基;A1与A2系各表示独立的单键或2价连结基;R1a与R2a系表示独立的氢原子、氰基、羟基、-COOH、-COOR5a、-CO-NH-R6a、可具取代基之烷基、烷氧基或环状烃基(于形成环之键结中可具有酯基或羰基);R5a系表示可具取代基之烷基、烷氧基或环状烃基(于形成环之键结中可具有酯基或羰基);R6a系表示可具取代基之烷基。
地址 日本