| 主权项 |
1.一种电激发光二极体阵列之测试方法,系:令OLED或PLED阵列中的每一个OLED或PLED轮流通电;轮流取得每一个通电中OLED或PLED的负载特性资料,并予蒐集;根据蒐集的负载特性资料与预设的标准値比对以判断其是否正常。2.如申请专利范围第1项所述电激发光二极体阵列之测试方法,该OLED或PLED阵列中的每一OLED或PLED系透过一切换开关阵列分别与电源构成回路,前述回路又与一电脑系统连接,以便由电脑系统收集并比对每一OLED或PLED的特性资料。3.如申请专利范围第2项所述电激发光二极体阵列之测试方法,该电脑系统系预先设定标准的电压波形,再与蒐集取得的电压波形比较,以判断受测的OLED或PLED是否有短路、开路或发光不完全等状况。4.如申请专利范围第3项所述电激发光二极体阵列之测试方法,该电源系一定电压源。5.如申请专利范围第3项所述电激发光二极体阵列之测试方法,该电源系一定电流源。图式简单说明:第一图:系本发明之基本流程图。第二图A、B:系OLED或PLED之等效电路图。第三图A-E:系OLED或PLED之特性波形图。第四图:系本发明之系统示意图。第五图:系本发明之特性辨识工作流程图。 |
