| 主权项 |
1.一种用于分析仪器之检验匣,该检验匣包括:一包括光学读取孔和测试表面之底部构件;和一包括可转动试剂转盘之顶部构件,该试剂转盘包括样本接受埠和许多试剂孔,其中该试剂孔中一个或多个包括试剂和将该试剂输送至测试表面之试剂孔活塞。2.一种用于分析仪器之检验匣,该检验匣包括:一包括光学读取孔和测试表面之底部构件;和一包括可转动试剂转盘之顶部构件,该试剂转盘包括样本接受埠,许多试剂孔,试剂流动导槽,差式密封,其中该测试表面位于光学读取孔中,其中该试剂孔中一个或多个包括试剂和将该试剂输送至测试表面之试剂孔活塞,且其中该试剂流动导槽邻近该样本接受埠,该试剂流动导槽顶部连接该样本接受埠顶部,且差式密封位于该试剂流动导槽底部和一个试剂孔底部间,因而容许自试剂孔之一发生流动经由试剂流动导槽而至该样本接受埠。3.根据申请专利范围第1或2项之检验匣,其中该测试表面包括一种将分析物固定于该测试表面上之分析物特定黏合层。4.根据申请专利范围第1或2项之检验匣,其中该测试表面将分析物非特定地固定于该测试表面上。5.根据申请专利范围第1或2项之检验匣,其中该测试表面系一种光学活性测试表面。6.根据申请专利范围第5项之检验匣,其中采用该光学活性测试表面以产生干扰,椭圆光度或偏光信号。7.根据申请专利范围第1或2项之检验匣,其中该可转动转盘更包括一样本处理元件。8.根据申请专利范围第7项之检验匣,其中该样本处理元件包括一过滤表面。9.根据申请专利范围第1或2项之检验匣,其中采用该样本接受埠以接受棉块型态样本收集装置。10.根据申请专利范围第1或2项之检验匣,其中各试剂孔之底部系经可破坏密封材料密封,且其中各试剂孔顶部系经该试剂孔活塞结合可破坏密封材料而密封。11.根据申请专利范围第10项之检验匣,其中各试剂孔活塞包括一种可刺穿元件,当施加足够力时便将密封该试剂孔之可破坏密封材料破坏。12.根据申请专利范围第1或2项之检验匣,其中该底部构件包括用以确保该检验匣与该分析仪器正确对齐之延伸翼片。13.根据申请专利范围第1或2项之检验匣,其中各试剂孔活塞包括一种六角凸起元件。14.一种根据申请专利范围第1或2项之检验匣之组装法,该方法包括:将底部构件接附于顶部构件,所以可转动试剂转盘可以以底部构件为基准转动。15.一种测定样本中分析物存在或份量之分析仪器,该分析仪器包括:一种检验匣,其包括(i)一包括光学读取孔和测试表面之底部构件;和(ii)一包括试剂转盘之顶部构件,该试剂转盘包括样本接受埠和许多试剂孔,其中该试剂孔中一个或多个包括试剂和试剂孔活塞,以将试剂输送至测试表面,该顶部构件接附于底部构件,使得试剂转盘可以以底部构件为基准转动。一接受该检验匣之机制;一将该试剂转盘转动和索引化之转动元件;一将该试剂孔活塞囓合之柱塞元件,以将试剂自该试剂孔输送至样本接受埠和/或测试表面;一将样本和/或试剂引导至测试表面之真空元件;一自该测试表面检测信号之检测器;一根据检验程序控制转动,柱塞,和真空元件之控制处理器;和一使所产生信号与该分析物存在或份量相关之信号处理器。16.根据申请专利范围第15项之分析仪器,其更包括一种关于直线平移机制之机制,以将检验匣于分析仪器内平移。17.根据申请专利范围第15项之分析仪器,其更包括用以将该检验匣稳定之加压角架。18.根据申请专利范围第15项之分析仪器,其更包括用以决定匣定向之光学控制元件。19.根据申请专利范围第15项之分析仪器,其中该转动元件包括机械臂和马达。20.根据申请专利范围第15项之分析仪器,其中该柱塞元件包括接附于垂直驱动元件之推棒。21.根据申请专利范围第20项之分析仪器,其中采用该推棒以将六角凸起元件定位于该试剂孔活塞上。22.根据申请专利范围第21项之分析仪器,其中在输送该试剂后,该推棒使试剂孔活塞回到其在试剂孔内原始位置附近。23.根据申请专利范围第15项之分析仪器,其中该检测器系择自由由颜色感应器,颜色检测器,影像检测器,光度计,发光计,萤光计,电位计,偏光计,和椭圆光度计所构成之族群。24.根据申请专利范围第15项之分析仪器,其中该检测器为一种固定之偏光镜椭圆光度计。25.根据申请专利范围第15项之分析仪器,其中该控制处理器和该信号处理器系由程式化以进行仪器控制和数据处理程序之单一一般用途电脑组成。26.根据申请专利范围第15项之分析仪器,其中该检验匣包括一种确认元件,其于分析仪器确认分析物和/或样本。27.根据申请专利范围第26项之分析仪器,其中该确认元件系一种条码,且该分析仪器包括组合以读取条码之条码读取机。28.根据申请专利范围第15项之分析仪器,其中采用该样本接受埠以接受棉块型态样本收集装置。29.一种样本中分析物存在或份量之测定方法,该方法包括:提供包括以下各项之检验匣:(i)一包括光学读取孔和测试表面之底部构件;和(ii)一包括试剂转盘之顶部构件,该试剂转盘包括样本接受埠和许多试剂孔,其中该试剂孔中一个或多个包括试剂和试剂孔活塞,以将试剂输送至测试表面,该顶部构件接附于底部构件,使得试剂转盘可以以底部构件为基准转动;提供包括以下各项之分析仪器:(i)一接受该检验匣之机制;(ii)一将该试剂转盘转动和索引化之转动元件;(iii)一将该试剂孔活塞囓合之柱塞元件,以将试剂自试剂孔输送至该测试表面;(iv)一将样本和/或试剂引导至该测试表面之真空元件;(v)一自该测试表面产生信号之检测器;(vi)一根据检验程序控制转动,柱塞,和真空机制之控制处理器;和(vii)一使所产生信号与该分析物存在或份量相关之信号处理器;将该样本置入该匣之样本接受埠;将该检验匣置入该接受机制中;根据该检验程序使用分析仪器进行检验,其中该信号处理器测定该样本中分析物之存在或份量。30.根据申请专利范围第29项之方法,其中该检验样本系择自由喉咙棉块,阴道棉块,颈内棉块,直肠棉块,尿液棉块,鼻子棉块,鼻胭棉块,流体,水,尿液,血液,血清,血浆,吐气,洗液,组织均浆和处理流体所构成之群组。31.根据申请专利范围第1或2项之检验匣,其中该分析仪器系一种全自动医疗点仪器。32.根据申请专利范围第15项之分析仪器,其中该分析仪器系一种全自动医疗点仪器。33.一种样本中分析物存在或份量之测定方法,该方法包括:提供包括测试表面,样本接受埠和所有检验所需试剂之检验匣;和提供一种包括以下各项之分析仪器:(i)一接受该检验匣之机制;(ii)一将样本输送至测试表面之机制;(iii)一将试剂输送至该测试表面之机制;(iv)一自该测试表面产生信号之检测器;(v)一根据检验程序控制输送机制之控制处理器;和(vii)一使所产生信号与该分析物存在或份量相关之信号处理器;将该样本置入该匣之样本接受埠;将该检验匣置入该接受机制中;根据该检验程序使用分析仪器自动进行检验,其中该信号处理器决定该样本中分析物之存在或份量。34.根据申请专利范围第33项之方法,其中一种该试剂包括样本萃取剂,且该分析仪器更包括一种将该样本萃取剂输送至该样本接受埠,并容许自该样本萃取一种或多种分析物之机制,且该用以将样本输送至测试表面之机制更包括一种将萃取样本输送至测试表面之机制。35.根据申请专利范围第33项之方法,其中该检验样本系择自由尿液,血液,痰,血清,血浆,粪便物质,吐气,洗液,组织均浆,处理流体,喉咙棉块,阴道棉块,颈内棉块,直肠棉块,尿液棉块,鼻子棉块,鼻胭棉块和生物流体所构成之群组。36.根据申请专利范围第2项之检验匣,其中该分析仪器系一种全自动医疗点仪器。37.根据申请专利范围第12项之检验匣,其中该延伸翼片更包括用于转盘转动之锁定机制。38.根据申请专利范围第1或2项之检验匣,其更包括一种萃取剂流动导槽和一种控制萃取剂到达样本接受埠之差式密封。图式简单说明:图1表示代表性检验匣之表面图。图2a表示从上面观看检验匣之各种组件和其关于试剂转盘部份之排列。图2b表示试剂转盘底作之表面图。图3表示从底部观看检验匣之各种组件和其关于试剂转盘部份之排列。图4表示试剂转盘内密封试剂,和试剂孔内一个可能活塞设计,以及检验匣内底部部份中试剂孔和试剂输送埠间接触之放大图。图5(a-c)表示试剂转盘内之试剂孔和用于试剂输送之活塞作用。图6表示开放仪器系统之正面图。图7表示光学组件和该组件之支撑盘。图8表示开放仪器系统之俯视图,其说明匣位仪和其它重要仪器部件。图9表示开放仪器系统之侧面图。图10表示开放仪器系统之高处离角图。图11表示开放仪器系统之底部图。图12表示仪器系统供能之系统流程图。图13表示温度监控和电脑系统监控Daemon之系统流程图。图14表示条码监控Daemon之系统流程图。图15表示控制批次确认之系统流程图。图16表示匣架设监控Daemon之系统流程图。图17表示主要处理之系统流程图。图18表示起动之系统流程图。图19表示检验监控Daemon之系统流程图。图20表示检验之系统流程图。图21表示光学测量之系统流程图。图22表示卸除匣之系统流程图。图23表示仪器QC之系统流程图。图24表示检视数据之系统流程图。图25表示卸除数据之系统流程图。图26设定之系统流程图。图27表示诊断之系统流程图。图28表示主要处理之系统流程图;进行检验。图29表示处要处理之系统流程图;进行扫描。图30表示起动之系统流程图。图31表示检验之系统流程图。图32表示光学测量之系统流程图。图33表示释放萃取试剂之系统流程图。图34表示萃取样本之系统流程图。图35表示将试剂添加于光学活性表面或薄膜之系统流程图。图36表示将洗剂添加于光学活性表面或薄膜之系统流程图。图37表示其它次处理之系统流程图。图38表示最高阶数据分级/分类程序。图39表示预扫描限定之数据分级/分类程序。图40表示后共轭扫描限定之数据分级/分类程序。图41表示后受质扫描之数据分级/分类程序。图42表示形式比例和检测波峰之数据分级/分类程序。图43表示储存和列印结果之数据分级/分类程序。图44表示自数具删除光学系统过扫描之数据分级/分类程序。图45表示产生预扫描矩阵之数据分级/分类程序。图46表示限定预扫描矩阵之数据分级/分类程序。图47表示预共轭和后共轭扫描数据之数据分级/分类程序。图48表示产生后共轭矩阵之数据分级/分类程序。图49表示限定后共轭矩阵之数据分级/分类程序。图50表示检测比例数据中波峰之数据分级/分类程序。图51表示产生后共轭矩阵之数据分级/分类程序。图52表示限定后共轭矩阵之数据分级/分类程序。图53表示组装试剂匣之展开图。图54a-54d表示测试匣一种可能的底部组态。 |
