| 发明名称 |
UN METODO DE DETECTAR DEFECTOS EN SUSTRATOS. |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
ES420627(A1) |
申请公布日期 |
1976.03.16 |
| 申请号 |
ES19270004206 |
申请日期 |
1973.11.17 |
| 申请人 |
DEERING MILLIKEN RESEARCH CORPORATION |
发明人 |
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| 分类号 |
D04B35/22;D06H3/00;G01N21/91;G01N33/36;(IPC1-7):01N/;06P/ |
主分类号 |
D04B35/22 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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