发明名称 DIAGNOSIS CIRCUIT FOR FAILURE DETECTION
摘要 PURPOSE:A circuit to find out defect in error correction circuit by connecting memory to central processor and using such as diagnosis program.
申请公布号 JPS51147147(A) 申请公布日期 1976.12.17
申请号 JP19750071576 申请日期 1975.06.12
申请人 NIPPON ELECTRIC CO 发明人 OONO KUNIO
分类号 G06F11/08;G06F12/16;G06F13/00 主分类号 G06F11/08
代理机构 代理人
主权项
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