发明名称 CMOS IMAGE SENSOR FOR DEPTH MEASUREMENT USING TRIANGULATION WITH POINT SCAN
摘要 본 발명의 방법은, 광원을 이용하여 스캔 라인을 따라 3차원 물체에 대해 순차적인 광점들을 투사하는 1차원 포인트 스캔을 수행하는 단계, 이미지 플레인을 형성하는 2차원 어레이에 배열되는 복수의 픽셀들을 갖는 이미지 센서에서 이미지 플레인 상에서 스캔 라인의 등극선을 형성하는 픽셀들의 행을 선택하는 단계, 픽셀들의 행에서 대응하는 픽셀을 이용하여 각 광점을 검출하는 단계, 순차적인 광점들에서 대응하는 광점의 픽셀 특정 검출에 응답하여 픽셀 특정 출력을 생성하는 단계, 그리고 적어도 픽셀 특정 출력 및 대응하는 광점을 투사하는 광원에 의해 사용된 스캔 각에 기반하여 3차원 물체의 표면 상의 대응하는 광점까지의 거리를 판별하는 단계를 포함한다.
申请公布号 KR20160124664(A) 申请公布日期 2016.10.28
申请号 KR20160033523 申请日期 2016.03.21
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 WANG YIBING MICHELLE;OVSIANNIKOV ILIA;SMITS DIRK
分类号 H04N13/02;G01B11/02;G06T7/00;H04N5/374;H04N5/3745;H04N13/00 主分类号 H04N13/02
代理机构 代理人
主权项
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