光扫瞄装置(一)

摘要

一种光扫瞄装置，用于扫瞄一种磁光之记录载体。系依三光束法将该主光束（其极化面朝一方向被转动）从磁光之记录载体反射到一第一光检出器，而另一主光束（其极化面朝另一方向被转动，从该磁光之记录载体被反射到第二光检出器。资料信号系由第一与第二光检出器之光电压差所构成。为了避免资料信号中干扰之杂讯，故将第二光检出器准确调整，俾仅有该主光束射在该第二光检出器上，而不会有高于或低于0级次的绕射产物射到其上，为了将资料信号Ｓ的杂讯减少，而不必为此因而须将第二光检出器准确调整。故从磁光记录载体(6)到第二光检出器(12)之光束大于＋１及低于－１级次者都被反射。为了产生该资料信号(S)，由第二光检出器(12)之光电压至少将由光束＋１及－１级次的光电压引出。因此第二光检出器可选较大者，且不须准确调整。

主权项

1.一种用于扫瞄磁光记录载体(6)的光扫瞄装置,系依三光束法利用一种光绕射作用之元件达成,其中一主光束(其极化面向一方向旋转)从磁光记录载体(6)被反射到第一光检出器(11),而另一主光束(其极化面向另一方向旋转)从磁光记录载体(6)被反射到第二光检出器(12),且其中资料信号系由第一与第二光检出器(11)(12)的光电压之差分所形成,其特征在:高于+1及低于-1级次的光束亦反射到第二光检出器(12),且至少由+1与-1级次之光束产生之光电压被取出,以从第二光检出器(12)之光电压PS产牛资料信号S,且设有第三光检出器(E),+1级次之光束从磁光记录载体反射到其上,并设有第四光检出器(F),-1级次之光束从磁光记录载体(1)反射到其上,并由第二光检出器(12)的光电压PS取出光电压信号ES及FS。2.如申请专利范围第1项之光扫瞄装置,其中由第三及第四光检出器(E)(F)的光电压ES、FS之差分形成一记录误差信号TE=S-FS。3.如申请专利范围第二项所述之光扫瞄装置,其中:设有第五光检出器(G),大于+1之光束从磁光记录载体(6)反射到其上,并设有第六光检出器(H),低于-1级次之光束从磁光记录载体(6)反射到其上,且第五及第六光检出器(G)(H)之光电压GS与HS从第二光检出器(12)之光电压取出。