CHECKING GEOMETRY OF MULTILAYER PATTERNS FOR IC STRUCTURES,申请号KR1019850009763-传众专利搜索

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发明名称	CHECKING GEOMETRY OF MULTILAYER PATTERNS FOR IC STRUCTURES
摘要
申请公布号	KR1019900005349(B1)	申请公布日期	1990.07.27
申请号	KR1019850009763	申请日期	1985.12.24
申请人		发明人
分类号		主分类号
代理机构		代理人
主权项
地址

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