发明名称 | 半导体衬底、半导体薄膜以及多层结构的制造工艺 | ||
摘要 | 半导体衬底制造工艺,包括:准备第1衬底的步骤,该衬底有经过氢退火的表面层部分;分离层的形成步骤,从表面层部分一侧把氢之类的离子注入第1衬底。从而形成分离层相互键合第1硅衬底与第2硅衬底的键合步骤,使表面层部分位于内部,从而形成多层结构;以及利用分离层分离多层结构的转移步骤,从而把表面层部分的低缺陷层转移到第2衬底上。该低缺陷层是体晶片中减少了COP和FPD等固有缺陷的单晶体硅层。 | ||
申请公布号 | CN1241803A | 申请公布日期 | 2000.01.19 |
申请号 | CN99109898.6 | 申请日期 | 1999.05.14 |
申请人 | 佳能株式会社 | 发明人 | 坂口清文;米原隆夫;佐藤信彦 |
分类号 | H01L21/00 | 主分类号 | H01L21/00 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 王永刚 |
主权项 | 1.一种半导体衬底制造工艺,包括:第1衬底的准备步骤,第1衬底具有经受氢退火的一个表面层部分;分离层的形成步骤,将选自一组由氢气、氮气和稀有气体中的至少一种元素离子,从所述表面层部分,注入到所述第1衬底儸龋,从而形成一个分离层;键合步骤,使所述第1衬底与一个第2衬底相互键合,使所述表面层部分可处于内部,从而形成了多层结构;以及转移步骤;在所述分离层处,将所述多层结构分开,使至少部分所述表面层部分转移到所述第2衬底上。 | ||
地址 | 日本东京 |