发明名称 印刷电路板钻孔精度分析方法
摘要 本发明提供一种印刷电路板钻孔精度分析及呈现方法,其系包括下列步骤:先输入印刷电路板钻孔量测资料与理论资料,并利用该量测资料与理论资料计算出平均直、偏差量、标准差、制程准确度、制程精密度以及制程能力指数等相关统计资料;在呈现方面,根据钻孔刀径选择项目与区域选择项目选取所属范围之统计资料,并根据选取资料,将其以向量图、分布图及箭靶图之图像表示之,藉此提供一清楚明了之分析图,以有效呈现印刷电路板上之钻孔分布及其对应偏差量与偏差方向。
申请公布号 TW488195 申请公布日期 2002.05.21
申请号 TW089124616 申请日期 2000.11.21
申请人 牧德科技股份有限公司 发明人 汪光夏;洪士玄
分类号 H05K3/04 主分类号 H05K3/04
代理机构 代理人 林火泉 台北市忠孝东路四段三一一号十二楼之一
主权项 1.一种印刷电路板钻孔精度分析方法,包括下列步骤:输入印刷电路板钻孔量测资料与理论资料;利用该量测资料与理论资料计算出相关统计资料;根据选择项目选取所属范围之统计资料;以及将该选取资料以图像表示之,且该图像系包含向量图、分布图及箭靶图。2.如申请专利范围第1项所述之印刷电路板钻孔精度分析方法,其中,该量测资料系包含量测座标、量测半径及量测真圆度。3.如申请专利范围第1项所述之印刷电路板钻孔精度分析方法,其中,该理论资料系包括理论座标、理论半径及理论真圆度。4.如申请专利范围第1项所述之印刷电路板钻孔精度分析方法,其中,该印刷电路板钻孔量测资料系藉由一可量测印刷电路板钻孔精度之装置来传输取得者。5.如申请专利范围第1项所述之印刷电路板钻孔精度分析方法,其中,该统计资料系包含平均値、偏差量、标准差、制程准确度、制程精密度以及制程能力指数等。6.如申请专利范围第1项所述之印刷电路板钻孔精度分析方法,其中,该选择项目系选自钻孔刀径选择项目以及区域选择项目其中之一。图式简单说明:第一图为本创作之流程图。第二图为本创作之统计结果以箭靶图表示之示意图。第三图为本创作之统计结果以分布图表示之示意图。第四图为本创作之统计结果以向量图表示之示意图。
地址 新竹县科学工业园区工业东九路十五号三楼