发明名称 电瓶状态测试方法及其装置
摘要 本创作系关于一种电瓶状态测试方法及其装置,其检测之主要方法系利用检测装置将一电阻性负载依不同周期时间串接至该电瓶之电极端子,再于每段周期时间取出该电瓶平衡后之电压,随后即可利用前述电压值计算出该电瓶目前之内电阻及电压差,若该压差小于标准值,且该内电阻值大于标准值,则判断该电瓶为老化状态需更换。
申请公布号 TW508448 申请公布日期 2002.11.01
申请号 TW090108609 申请日期 2001.04.11
申请人 昶懋国际有限公司 发明人 卓垚龙
分类号 G01R31/36 主分类号 G01R31/36
代理机构 代理人 林镒珠 台北市长安东路二段一一二号九楼
主权项 1.一种电瓶状态测试方法,系包含有:一取得电瓶初始电压步骤,系将该电瓶未开始量测前之电压値;一取得加载时电瓶化学反应平衡之第一电压步骤,系将一负载在第一周期时间串接至该电瓶之电极端子,使该电瓶放电,待该电瓶达到化学反应平衡时,即量测其电压値;一取得化学反应平衡之第二电压步骤,即在第二周期时间内将负载自该电瓶移除,并于第一周期之回复时间量测该电瓶之电压値;一取得化学反应平衡之第三电压步骤,即为第三周期内仍持续将负载移除,并在第二周期之回复时间量测电瓶之平衡电压;一判断电瓶老化步骤,即取上述各周期所量测之电压値,并利用其间的相对差値计算出电瓶之动态内电阻,之后即可以该电压差値与该内电阻値与电瓶之标准値作一比较,若该电压差値小于标准値且内电阻値大于标准値,则该检测电瓶即为老化电瓶,反之,则仍为可用状态的电瓶。2.如申请专利范围第1项所述之电瓶状态测试方法,其中该第一周期时间可为4ms~1s或6ms。3.如申请专利范围第1项所述之电瓶状态测试方法,其中该第一周期时间之回复时间系为4ms~1s。4.如申请专利范围第1项所述之电瓶状态测试方法,其中该第一周期时间之回复时间系为5ms~500ms或10ms。5.如申请专利范围第1项所述之电瓶状态测试方法,其中该第二周期时间之回复时间较第一周期回复时间长。6.如申请专利范围第1项所述之电瓶状态测试方法,其中该电瓶状态测试方法系包含有一计算电瓶内部之动态电阻,系以各周期所测得之电压値及配合连接至电瓶之负载値,以欧姆定律计算而后得之。7.一种电瓶状态测试装置,系包含有有:一外壳,其上设有数个缺槽;一螺钳组,其连接至该检测装置,用以连接电瓶之电极端子;一检测电路,其输入端系连接至该螺钳组,系设于该外壳内,用以计算电瓶状态;一显示器,系设于该外壳之上端面之缺槽处;一按键组,系设于该外壳之上端面之缺槽处。8.如申请专利范围第7项所述之电瓶状态测试装置,其中该检测电路系包含有:一微处理器,系用以计算比对量测値与标准値间之差距,其中该显示器之输入端系连接至该微处理器之输出端,而该按键组系连接至该微处理器之输入端;一电阻性负载单元,上述微处理器透过一开关连接至该电阻性负载单元,其中该电阻性负载系连接至该螺钳组;一电压随耦器,上述微处理器透过一类比数位转换器连接至该电压随耦器,其中该电压随耦器系连接至该螺钳组;一电压转换单元,系提供该检测电路内部电路之工作电源。9.如申请专利范围第8项所述之电瓶状态测试装置,其中该外壳下方设有一串接埠,其连接至该微处理器,可用以连接特定串接埠之装置。10.如申请专利范围第9项所述之电瓶状态测试装置,其中该显示器可为液晶显示器或区段显示器。图式简单说明:第一图:系本发明之一外观图。第二图:系本发明之一电路方块图。第三图:系本发明之一流程图。第四图:系本发明之一量测曲线图,其揭示两状态之电瓶检电压曲线图。
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