| 主权项 |
1.一种萤光计,其包括:一激励光源,其系用于产生一激励光之平行的光束;一可转动的镜子,其系配置俾使其能够从该激励光源接受一平行的光束,并将一聚集的激励光锥投影在一或更多的样品上;一样品支架,其系包括一或更多之沟槽,其中每一沟槽能够支撑一包含有一样品的光学单元;以及一检测器,其系能够从存在于该一或更多样品中的萤光物质中检测萤光信号。2.一种萤光计,其包括:一激励光源,其系用于产生一激励光之平行的光束;一可转动的镜子,其系配置俾使其能够从该激励光源接受一平行的光束,并将一聚集的激励光锥投影在一或更多的样品上;一样品支架,其系包括一或更多之沟槽,其中每一沟槽能够接受一包含有一样品的光学单元;以及一检测器,其系能够从存在于该一或更多样品中的萤光物质中检测萤光信号;以及一控制器,其系使用由该萤光计所检测的萤光信号用以监测并可任择地控制样品所取之天然或工业的制程。3.一种以萤光计检测存在于一或更多样品中的萤光物质的方法,该方法包括以下的步骤:a)提供一萤光计,其中该萤光计包括一激励光源,其系用于产生一激励光之平行的光束;一可转动的镜子,其系配置俾使其能够从该激励光源接受一平行的光束,并将一聚集的激励光锥投影在一或更多的样品上;一样品支架,其系包括一或更多之沟槽,其中每一沟槽能够支撑一包含有一样品的光学单元;一检测器,其系能够从存在于该一或更多样品中的萤光物质中检测萤光信号;以及可任择地一控制器,其系使用由该萤光计所检测的萤光信号用以监测并可任择地控制样品所取之天然或工业的制程;b)从一天然或工业的制程流中提供一或更多的样品;以及使用该萤光计在该样品中检测该萤光物质之萤光信号。4.如申请专利范围第1项之萤光计,其中该镜子能够相关于一360度轴转动。5.如申请专利范围第1项之萤光计,其中该镜子系为一偏轴抛物面镜。6.如申请专利范围第1项之萤光计,其中该样品支架具有一开口镜子配置通过该开口将激励光之平行的光束投影在光学单元上。7.如申请专利范围第6项之萤光计,其中该光学单元包括一圆柱状玻璃管。8.如申请专利范围第6项之萤光计,其中该光学单元包括一供线上测试的流动单元。9.如申请专利范围第1项之萤光计,其进一步包括配置一方向镜用以将激励光之平行的光束引导至所配置之转动的镜子上,致使其随着镜子转动。10.如申请专利范围第1项之萤光计,其中该激励光源包括一单色光源或是一色彩变化的光源。11.如申请专利范围第1项之萤光计,其中该样品系由原料或是造纸厂制程的涂料样品所得。12.如申请专利范围第2项之萤光计,其中该控制器包括一或更多之隔离的类比输入与输出,致使控制器能够使用萤光信号以及其他的类比输入监测并可任择地控制工业水系统。13.如申请专利范围第12项之萤光计,其中该控制器处理萤光信号用以监测并可任择地控制由造纸厂制程所产生之原料或涂料样品的微生物活动。14.如申请专利范围第1项之萤光计,其中该光学单元包括一流动单元供线上监测与可任择地控制。15.如申请专利范围第3项之萤光方法,其中该经检测的萤光信号系为存在于来自造纸厂制程所产生之原料或涂料样品中的萤光物质。图式简单说明:第1图系为本发明之一萤光计的侧透视图,其系能够在一单一样品中测量萤光信号。第2图系为本发明之一萤光计的俯视透视图,其系能够在一单一样品中测量萤光信号。第3图系为本发明之一萤光计的俯视透视图,其系能够在复数之样品中测量萤光信号。 |
