| 主权项 |
1.一种避免液晶显示萤幕之液晶分子产生重力不均(gravity mura)的方法,该液晶显示萤幕由一第一及一第二基板组合而成,且以滴下式注入法之制程(ODF process)将液晶分子形成于二液晶基板之间,该方法包括以下步骤:至少侦测一感光型间隔物(photo spacer)的高度,以决定该第一及第二基板之间适当之液晶分子体积含量;检测至少一滴液晶分子之体积;及依据该检测结果,调整与控制下一次液晶分子之体积。2.如申请专利范围第1项所述之方法,其中可利用电子照相技术(CCD)检测出该滴液晶分子之体积。3.如申请专利范围第1项所述之方法,其中可利用量测该滴液晶分子与该液晶基板之接触角,以检测出该滴液晶分子之体积。4.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该液晶显示萤幕系由一具有彩色滤光镜(CF)之第一基板和一具有薄膜电晶体(TFT)之第二基板所组成。5.一种避免液晶显示装置之液晶分子产生重力不均(gravity mura)的方法,每一液晶显示装置系由一第一及一第二基板组合而成,且以滴下式注入法之制程(ODF process)将液晶分子形成于该第一及第二基板之间,该方法系应用于连续对一第一液晶显示装置及一第二液晶显示装置注入液晶之制程,包括以下步骤:至少侦测一感光型间隔物(photo spacer)的高度,该间隔物系设置于该第一液晶显示装置,以决定该第一液晶显示装置之该第一与第二基板之间的液晶分子体积含量;滴下式注入液晶于该第一液晶显示装置,并检测至少一滴液晶分子之体积;及依据该检测结果,调整与控制该第二液晶显示装置所需之液晶分子之体积。6.如申请专利范围第5项所述之方法,其中可利用电子照相技术(CCD)检测出该滴液晶分子之体积。7.如申请专利范围第5项所述之方法,其中可利用量测该滴液晶分子与该液晶基板之接触角,以检测出该滴液晶分子之体积。8.一种避免液晶显示萤幕之液晶分子产生重力不均(gravity mura)的方法,每一液晶显示萤幕系由二液晶基板组合而成,且以滴下式注入法之制程(ODF process)将液晶分子形成于二液晶基板之间,该方法系应用于连续对一第一批液晶显示萤幕及一第二批液晶显示萤幕注入液晶之制程,包括以下步骤:于该第一批液晶显示萤幕中,至少侦测一片液晶显示萤幕之一感光型间隔物(photo spacer)的高度,以决定二液晶基板之间的液晶分子体积含量;滴下式注入液晶于该第一批液晶显示萤幕,并检测至少一滴液晶分子之体积;及依据该检测结果,调整与控制该第二批液晶显示萤幕所需之液晶分子之体积。9.如申请专利范围第8项所述之方法,其中可利用电子照相技术(CCD)检测出该滴液晶分子之体积。10.如申请专利范围第8项所述之方法,其中可利用量测该滴液晶分子与该液晶基板之接触角,以检测出该滴液晶分子之体积。图式简单说明:第1图绘示一种传统的液晶显示萤幕之液晶注入法的简单示意图;第2图绘示以滴下式注入法将液晶注入液晶显示萤幕的简单示意图;第3图绘示液晶显示萤幕内液晶分子产生重力不均之示意图;及第4图绘示一滴液晶分子滴于液晶基板时所呈现之接触角之示意图。 |
