| 发明名称 |
Method for testing an integrated circuit. |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
HK1048158(A1) |
申请公布日期 |
2005.06.03 |
| 申请号 |
HK20030100154 |
申请日期 |
2003.01.07 |
| 申请人 |
ATMEL GERMANY GMBH.;VISHAY SEMICONDUCTOR GMBH. |
发明人 |
MATTHIAS EICHIN;ALEXANDER KURZ |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/3185;G11C29/46;G11C29/48;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G11C |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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