发明名称 用于电路内测试结果之自动化除错及最佳化的方法与装置
摘要 本发明提出一种被使用以测试于自动化测试器上之待测装置之电路内测试之自动化除错和最佳化之方法及装置。该新颖的测试除错和最佳化技术抽取包含于知识架构中之专家知识且自动化于一积体电路测试器上执行之一有效稳定,并且最好是最佳化,之测试的形式化。
申请公布号 TW200537111 申请公布日期 2005.11.16
申请号 TW093141745 申请日期 2004.12.31
申请人 安捷伦科技公司 发明人 罗艾肯;魏基方;谭天贺;威廉
分类号 G01R31/00 主分类号 G01R31/00
代理机构 代理人 恽轶群;陈文郎
主权项
地址 美国