| 发明名称 |
METHOD OF CHECKING MULTI-THRESHOLD IGFET LARGE-SCALE INTEGRATED CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
RU1132686(C) |
申请公布日期 |
1993.07.15 |
| 申请号 |
SU19823498670 |
申请日期 |
1982.10.05 |
| 申请人 |
KRASNOZHON A.I.;SUKHORUKOV N.I. |
发明人 |
KRASNOZHON A.I.;SUKHORUKOV N.I. |
| 分类号 |
H01L21/66;G01R31/26;G01R31/28 |
主分类号 |
H01L21/66 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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