发明名称 |
分析设备验证系统和分析设备验证方法 |
摘要 |
本发明涉及一种分析设备验证系统和分析设备验证方法。在分析设备的验证中,在系统结构不标准或者验证所需的基准值不同于标准值的情况下,无法自动进行验证作业,从而需要时间和精力。对于作为验证对象的分析设备系统,首先,参数获取单元基于电子供给的合格性评价计划文档和电子供给的合格性评价实施过程手册来获取所述分析设备系统的合格性评价实施用参数。然后,验证执行单元使用获取到的合格性评价实施用参数来执行所述分析设备系统的验证。 |
申请公布号 |
CN103575856B |
申请公布日期 |
2016.12.28 |
申请号 |
CN201310329184.1 |
申请日期 |
2013.07.31 |
申请人 |
株式会社岛津制作所 |
发明人 |
辻井贯也 |
分类号 |
G01N33/00(2006.01)I;G01N30/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01N33/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 |
代理人 |
刘新宇 |
主权项 |
一种分析设备验证系统,用于执行分析设备系统的验证,所述分析设备验证系统包括:参数获取单元,用于从电子供给的合格性评价基本计划文档中获取合格性评价实施用参数;过程手册创建单元,用于向电子供给的合格性评价实施基本过程手册添加所述合格性评价实施用参数,由此创建合格性评价实施过程手册;以及验证执行单元,用于基于所创建的所述合格性评价实施过程手册来执行所述分析设备系统的验证。 |
地址 |
日本京都府 |