发明名称 |
一种TDD‑LTE系统上行干扰测试工具及测试方法 |
摘要 |
本发明公开了一种TDD‑LTE系统上行干扰测试工具及测试方法。测试工具包括天线,用于接收基站发射的空间信号;与天线连接的第一射频模块放大器,用于对天线接收的信号进行放大;与第一射频模块放大器连接的基带处理模块,用于对第一射频模块放大器放大的信号进行基带处理;与基带处理模块连接的处理器,用于对基带处理后的信号进行数字滤波,并将数字滤波处理后的信号进行同步设备处理;以及与处理器连接的第二射频模块放大器,用于对处理器处理后的信号进行放大,并将信号输出至一频谱仪或扫频仪上。本发明能有效提取干扰源的信号频率及功率大小的频谱,同时能在短时间内精确查找干扰源的具体位置。 |
申请公布号 |
CN106255147A |
申请公布日期 |
2016.12.21 |
申请号 |
CN201610884724.6 |
申请日期 |
2016.10.10 |
申请人 |
广州市瀚云信息技术有限公司 |
发明人 |
杨戬;张振;周健 |
分类号 |
H04W24/08(2009.01)I;H04B17/345(2015.01)I |
主分类号 |
H04W24/08(2009.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种TDD‑LTE系统上行干扰测试工具,其特征在于:包括,天线,用于接收基站发射的空间信号;与天线连接的第一射频模块放大器,用于对天线接收的信号进行放大;与第一射频模块放大器连接的基带处理模块,用于对第一射频模块放大器放大的信号进行基带处理;与基带处理模块连接的中央处理器,用于对基带处理后的信号进行数字滤波,并将数字滤波处理后的信号进行同步设备处理;以及与中央处理器连接的第二射频模块放大器,用于对中央处理器处理后的信号进行放大,并将信号输出至一频谱仪或扫频仪上。 |
地址 |
510530 广东省广州市高新技术产业开发区香山路17号厂房B603 |