发明名称 一种TDD‑LTE系统上行干扰测试工具及测试方法
摘要 本发明公开了一种TDD‑LTE系统上行干扰测试工具及测试方法。测试工具包括天线,用于接收基站发射的空间信号;与天线连接的第一射频模块放大器,用于对天线接收的信号进行放大;与第一射频模块放大器连接的基带处理模块,用于对第一射频模块放大器放大的信号进行基带处理;与基带处理模块连接的处理器,用于对基带处理后的信号进行数字滤波,并将数字滤波处理后的信号进行同步设备处理;以及与处理器连接的第二射频模块放大器,用于对处理器处理后的信号进行放大,并将信号输出至一频谱仪或扫频仪上。本发明能有效提取干扰源的信号频率及功率大小的频谱,同时能在短时间内精确查找干扰源的具体位置。
申请公布号 CN106255147A 申请公布日期 2016.12.21
申请号 CN201610884724.6 申请日期 2016.10.10
申请人 广州市瀚云信息技术有限公司 发明人 杨戬;张振;周健
分类号 H04W24/08(2009.01)I;H04B17/345(2015.01)I 主分类号 H04W24/08(2009.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种TDD‑LTE系统上行干扰测试工具,其特征在于:包括,天线,用于接收基站发射的空间信号;与天线连接的第一射频模块放大器,用于对天线接收的信号进行放大;与第一射频模块放大器连接的基带处理模块,用于对第一射频模块放大器放大的信号进行基带处理;与基带处理模块连接的中央处理器,用于对基带处理后的信号进行数字滤波,并将数字滤波处理后的信号进行同步设备处理;以及与中央处理器连接的第二射频模块放大器,用于对中央处理器处理后的信号进行放大,并将信号输出至一频谱仪或扫频仪上。
地址 510530 广东省广州市高新技术产业开发区香山路17号厂房B603