电子设备环境测试系统

摘要

本发明公开了一种电子设备环境测试系统，根据测试标准选定温箱温度时间曲线，在存储器中设定对应于该温度时间曲线的各个状态改变时间及温度浮动限值、门限电压，处理器根据温箱测试腔体的实时温度和测试计时，以及各个状态改变时间及温度浮动限值、门限电压，自动控制待测电子设备的上电、断电及停止测试。本发明的电子设备环境测试系统，根据温箱测试腔体的实时温度与预先选定的温箱的温度时间之间的对应关系，实时判断温箱运行是否正常，不仅关注时间参数，还关注检测环境温度，而且在测试过程中，待测电子设备的运行状态可以根据测试标准进行改变，能实现对待测电子设备运行状态的精确控制，最大程度符合测试标准的要求。

主权项

一种电子设备环境测试方法，其特征在于，利用温箱按照设定的温度时间曲线提供测试腔体温度；利用温度传感器检测温箱测试腔体的温度；利用存储器存储温度浮动限值以及依序增大的第一个到第2N个共2N个状态改变时间，第2N个状态改变时间小于温箱设定的温度时间曲线的时间长度，N为正整数；利用处理器输出停止测试信号，处理器工作过程包括以下步骤：一.所述温箱加电运行后，如果所述温度传感器检测到温箱测试腔体的温度达到温箱设定的温度时间曲线的起点温度，则开始测试计时，并且i＝1；二.如果开始测试计时后的一时刻，所述温度传感器检测的所述温箱测试腔体的温度与所述温箱设定的温度时间曲线对应于该时刻的温度的差值的绝对值大于温度浮动限值的绝对值，进行步骤五，否则进行步骤三；三.当测试计时小于第i个状态改变时间时，处理器输出断电状态控制信号，控制待测电子设备的工作电源断开，进行步骤二；当测试计时大于等于第i个状态改变时间且小于第i+1个状态改变时间时，处理器输出上电状态控制信号，控制待测电子设备的工作电源接通，进行步骤二；当测试计时等于第i+1个状态改变时间时，处理器输出断电状态控制信号，控制待测电子设备的工作电源断开，并使i自增2；四.如果i小于2N,则进行步骤二，否则进行步骤五；五.控制输出停止测试信号。