发明名称 |
一种大口径平面镜拼接检测对准方法 |
摘要 |
本发明公开了一种大口径平面镜拼接检测对准方法,包括以下步骤:(1)对被检测光学平面反射镜进行子孔径规划,使得各子孔径对被检测光学平面反射镜全口径覆盖;(2)在各子孔径重叠区域粘贴靶标;(3)执行各规划子孔径的干涉检测;(4)在各子孔径干涉检测结果中,分别确定各子孔径的靶标中心坐标;(5)以其中一个子孔为基准,结合各子孔径的靶标中心坐标,传递换算各子孔径的检测结果,完成拼接对准;(6)在完成拼接对准后,对各子孔径检测数据进行拼接处理,得到被检测镜面的全口径面形。 |
申请公布号 |
CN106248352A |
申请公布日期 |
2016.12.21 |
申请号 |
CN201610820991.7 |
申请日期 |
2016.09.13 |
申请人 |
湖北航天技术研究院总体设计所 |
发明人 |
闫力松;李强;王辉华;陈晓晨;史要涛;姜永亮;许伟才;王玉雷;杨子威 |
分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 |
武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 |
代理人 |
方放 |
主权项 |
一种大口径平面镜拼接检测对准方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)对被检测光学平面反射镜进行子孔径规划;(2)在各子孔径重叠区域粘贴靶标;(3)执行各规划子孔径的干涉检测;(4)在各子孔径干涉检测结果中,分别确定各子孔径的靶标中心坐标;(5)以其中一个子孔径的靶标中心坐标为基准,传递换算各子孔径的靶标中心坐标,进而完成拼接对准;(6)在完成拼接对准后,对各子孔径检测数据进行拼接处理,得到被检测镜面的全口径面形。 |
地址 |
430040 湖北省武汉市金山大道9号 |