自诊断系统和测试电路判断方法

摘要

本发明提供了自诊断系统和测试电路判断方法，其能够判断用于诊断测试目标电路的测试电路的正常性。根据本发明的一个方面的自诊断系统包括：测试电路，其包括第一和第二诊断控制器，第一和第二诊断控制器通过使用测试目标电路中的测试模式的执行结果来判断测试目标电路的正常性；以及测试电路判断单元，其用于通过将从第一诊断控制器输出的测试目标电路的正常性判断结果与从第二诊断控制器输出的测试目标电路的正常性判断结果相比较来判断测试电路的正常性。

主权项

一种自诊断系统，包括：测试电路，所述测试电路包括第一和第二诊断控制器，所述第一和第二诊断控制器通过使用测试目标电路中的测试模式的执行结果来判断所述测试目标电路的正常性；测试电路判断单元，所述测试电路判断单元通过将从所述第一诊断控制器输出的测试目标电路的正常性判断结果与从所述第二诊断控制器输出的所述测试目标电路的正常性判断结果相比较来判断所述测试电路的正常性；以及第一延迟电路，所述第一延迟电路用于相对于所述第一诊断控制器获取当执行在存储器中存储的测试模式时获得的期望值的时序，延迟所述第二诊断控制器从所述存储器获取所述期望值的时序，其中，所述测试电路包括存储期望值的存储器，并且所述第一和第二诊断控制器包括存储器控制电路，所述存储器控制电路控制从所述存储器读取所述期望值以及从所述存储器输出控制信号，并且所述第一和第二诊断控制器响应于所述控制信号，通过比较测试模式的执行结果和从所述存储器读出的期望值，确定所述测试目标电路的正常性。