发明名称 一种对岩石进行层进式损伤分析的方法
摘要 一种对岩石进行层进式损伤分析的方法,该方法包括以下步骤:步骤1:对所述横截面进行区域划分;步骤2:计算初始状态下各样环的CT平均值CT<sub>Tave(N)</sub>;步骤3:对所述岩样进行n组不同次数的冻融循环实验,分别计算各组冻融循环实验后各样环的CT平均值CT<sub>Tave(N)第n组</sub>,步骤4:整理步骤2和步骤3得到的数据,对岩石进行损伤分析,判断出冻融循环实验对岩样造成的损伤的集中部位。本发明提供的一种对岩石进行层进式损伤分析的方法,可以解决现有方法无法得到涵盖所有点的CT平均值,结果不精确的问题,精确反映岩石的受损程度,可得到无限小受损范围内的受损程度,操作简单,不用频繁操作。
申请公布号 CN106228558A 申请公布日期 2016.12.14
申请号 CN201610597318.1 申请日期 2016.07.26
申请人 三峡大学 发明人 刘杰;雷岚;颜媛媛;梁佳丽;兰钰;支永艳
分类号 G06T7/00(2006.01)I 主分类号 G06T7/00(2006.01)I
代理机构 宜昌市三峡专利事务所 42103 代理人 成钢
主权项 一种对岩石进行层进式损伤分析的方法,其特征在于该方法包括以下步骤:步骤1:选取岩样上的某一横截面,对所述横截面进行区域划分:从所述横截面的中心点出发,划分出N个等半径差的样环;步骤2:计算初始状态下各样环的CT平均值CT<sub>Tave(N)</sub>:分别对每一个样环所在的圆进行初始CT扫描,得到每一个样环所在的圆的CT值为CT<sub>1初始</sub>、CT<sub>2初始</sub>、CT<sub>3初始</sub>…CT<sub>N初始</sub>,测量每个样环所在的圆的面积值为S<sub>1</sub>、S<sub>2</sub>、S<sub>3</sub>…S<sub>N</sub>,初始状态下各样环的CT平均值CT<sub>Tave(N)初始</sub>=(CT<sub>N</sub>‑CT<sub>N‑1</sub>)/(S<sub>N</sub>‑S<sub>N‑1</sub>);步骤3:对所述岩样进行n组不同次数的冻融循环实验,分别计算各组冻融循环实验后各样环的CT平均值CT<sub>Tave(N)第n组</sub>,计算公式为CT<sub>Tave(N)第1组</sub>=(CT<sub>N第1组</sub>‑CT<sub>(N‑1)第1组</sub>)/(S<sub>N</sub>‑S<sub>N‑1</sub>),CT<sub>Tave(N)第2组</sub>=(CT<sub>N第1组</sub>‑CT<sub>(N‑1)第2组</sub>)/(S<sub>N</sub>‑S<sub>N‑1</sub>),…CT<sub>Tave(N)第n组</sub>=(CT<sub>N第n组</sub>‑CT<sub>(N‑1)第n组</sub>)/(S<sub>N</sub>‑S<sub>N‑1</sub>),式中,CT<sub>N第n组</sub>为第n组冻融循环实验后第N个样环所在的圆的CT值;步骤4:整理步骤2和步骤3得到的数据,对岩石进行损伤分析,判断出冻融循环实验对岩样造成的损伤的集中部位。
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