发明名称 |
一种硅锗纳米线的制作方法 |
摘要 |
本发明公布了一种硅锗纳米线的方法。其步骤如下:(1)准备一锗基半导体衬底作为基片;(2)在该锗基片上生长40纳米的P型掺杂的硅锗半导体沟道层A;(3)在该锗基片上生长40纳米厚的P型掺杂的锗材料牺牲层B;(4)在该锗基片上生长的40纳米的P型掺杂的硅锗半导体沟道层C;(5)在该锗基片上生长40纳米厚的P型掺杂的锗材料牺牲层D;(6)在该基片上生长40纳米氮化硅介质层;(7)在该基片上采用电子束光刻与剥离的方法沉积40纳米宽的金属铂;(8)利用金属铂为掩膜,采用ICP刻蚀的方法,刻蚀氮化硅掩膜层、锗牺牲层B、硅锗沟道层B、锗牺牲层A、硅锗沟道层A和锗衬底;(9)去除金属铂;(10)采用选择性腐蚀的方法腐蚀锗牺牲层;(11)去除氮化硅掩膜层,形成双层硅锗纳米线。 |
申请公布号 |
CN106229256A |
申请公布日期 |
2016.12.14 |
申请号 |
CN201610613954.9 |
申请日期 |
2016.07.29 |
申请人 |
东莞华南设计创新院;广东工业大学 |
发明人 |
王勇;王瑛;丁超 |
分类号 |
H01L21/205(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/205(2006.01)I |
代理机构 |
广东莞信律师事务所 44332 |
代理人 |
曾秋梅 |
主权项 |
一种硅锗纳米线的制作方法,其步骤如下:(1)准备一锗基半导体衬底作为基片(2)在该基片上生长40纳米厚的P型掺杂的硅锗半导体沟道层A;(3)在硅锗沟道层A上生长40纳米厚的P型掺杂的锗牺牲层B;(4)在锗牺牲层B上生长40纳米厚的P型掺杂的硅锗沟道层C;(5)在硅锗沟道层C上生长40纳米厚度的P型掺杂锗牺牲层D(6)在该基片上生长40纳米氮化硅介质层;(7)在该基片上采用电子束光刻制作中间是40纳米宽、1微米长纳米带,两端是10微米见方正方形的电子束胶图形;(8)利用电子束光刻胶为掩膜,采用ICP刻蚀的方法,刻蚀氮化硅掩膜层、锗牺牲层D、硅锗沟道层C、锗牺牲层B、硅锗沟道层A和锗衬底;(9)去除电子束光刻胶;(10)采用选择性腐蚀的方法腐蚀锗牺牲层B和锗牺牲层D;(11)去除氮化硅掩膜层,形成双层硅锗纳米线。 |
地址 |
523000 广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区生产力大厦北区一楼 |