发明名称 一种硅锗纳米线的制作方法
摘要 本发明公布了一种硅锗纳米线的方法。其步骤如下:(1)准备一锗基半导体衬底作为基片;(2)在该锗基片上生长40纳米的P型掺杂的硅锗半导体沟道层A;(3)在该锗基片上生长40纳米厚的P型掺杂的锗材料牺牲层B;(4)在该锗基片上生长的40纳米的P型掺杂的硅锗半导体沟道层C;(5)在该锗基片上生长40纳米厚的P型掺杂的锗材料牺牲层D;(6)在该基片上生长40纳米氮化硅介质层;(7)在该基片上采用电子束光刻与剥离的方法沉积40纳米宽的金属铂;(8)利用金属铂为掩膜,采用ICP刻蚀的方法,刻蚀氮化硅掩膜层、锗牺牲层B、硅锗沟道层B、锗牺牲层A、硅锗沟道层A和锗衬底;(9)去除金属铂;(10)采用选择性腐蚀的方法腐蚀锗牺牲层;(11)去除氮化硅掩膜层,形成双层硅锗纳米线。
申请公布号 CN106229256A 申请公布日期 2016.12.14
申请号 CN201610613954.9 申请日期 2016.07.29
申请人 东莞华南设计创新院;广东工业大学 发明人 王勇;王瑛;丁超
分类号 H01L21/205(2006.01)I 主分类号 H01L21/205(2006.01)I
代理机构 广东莞信律师事务所 44332 代理人 曾秋梅
主权项 一种硅锗纳米线的制作方法,其步骤如下:(1)准备一锗基半导体衬底作为基片(2)在该基片上生长40纳米厚的P型掺杂的硅锗半导体沟道层A;(3)在硅锗沟道层A上生长40纳米厚的P型掺杂的锗牺牲层B;(4)在锗牺牲层B上生长40纳米厚的P型掺杂的硅锗沟道层C;(5)在硅锗沟道层C上生长40纳米厚度的P型掺杂锗牺牲层D(6)在该基片上生长40纳米氮化硅介质层;(7)在该基片上采用电子束光刻制作中间是40纳米宽、1微米长纳米带,两端是10微米见方正方形的电子束胶图形;(8)利用电子束光刻胶为掩膜,采用ICP刻蚀的方法,刻蚀氮化硅掩膜层、锗牺牲层D、硅锗沟道层C、锗牺牲层B、硅锗沟道层A和锗衬底;(9)去除电子束光刻胶;(10)采用选择性腐蚀的方法腐蚀锗牺牲层B和锗牺牲层D;(11)去除氮化硅掩膜层,形成双层硅锗纳米线。
地址 523000 广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区生产力大厦北区一楼